摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
绪论 | 第12-24页 |
§0.1. 相关领域研究背景与现状 | 第12-15页 |
§0.1.1. 太赫兹技术的研究背景与现状 | 第12-14页 |
§0.1.2. 宽带圆极化天线的研究背景与现状 | 第14-15页 |
§0.2. 论文研究目标和主要内容 | 第15-18页 |
[参考文献] | 第18-24页 |
第一章 基于太赫兹时域光谱技术的介质参数测量 | 第24-48页 |
§1.1. 引言 | 第24页 |
§1.2. 太赫兹时域光谱技术 | 第24-29页 |
§1.2.1. 太赫兹波的产生 | 第24-26页 |
§1.2.2. 太赫兹波的探测 | 第26-27页 |
§1.2.3. 时域光谱测试系统 | 第27-29页 |
§1.3. 参数测量理论与测试结果 | 第29-44页 |
§1.3.1. 介质参数提取方法及测试方案 | 第29-33页 |
§1.3.2. 测试环境及测试结果 | 第33-43页 |
§1.3.3. 各种材料对比分析 | 第43-44页 |
§1.4. 本章小结 | 第44-45页 |
[参考文献] | 第45-48页 |
第二章 太赫兹硅基波导类器件 | 第48-70页 |
§2.1. 引言 | 第48页 |
§2.2. MEMS加工工艺及流程 | 第48-49页 |
§2.3. MEMS直通波导加工与测试 | 第49-56页 |
§2.3.1. 加工结构层次选择 | 第49-50页 |
§2.3.2. 加工步骤及测试方法 | 第50-52页 |
§2.3.3. 直通波导测试结果及损耗模型建立 | 第52-56页 |
§2.4. MEMS椭圆腔体带通滤波器 | 第56-60页 |
§2.4.1. 椭圆腔体带通滤波器设计 | 第56-59页 |
§2.4.2. 椭圆腔体带通滤波器测试结果与损耗分析 | 第59-60页 |
§2.5. MEMS矩形腔体带通滤波器 | 第60-63页 |
§2.5.1. 矩形腔体带通滤波器设计 | 第60-62页 |
§2.5.2. 矩形腔体带通滤波器测试结果与损耗分析 | 第62-63页 |
§2.6. 太赫兹频率扫描天线 | 第63-66页 |
§2.7. 本章小结 | 第66-67页 |
[参考文献] | 第67-70页 |
第三章 太赫兹金属波导类器件 | 第70-88页 |
§3.1. 引言 | 第70页 |
§3.2. 金属直通波导加工与测试 | 第70-72页 |
§3.3. 金属带通滤波器 | 第72-74页 |
§3.3.1. 金属带通滤波器设计加工与测试 | 第72-73页 |
§3.3.2. 金属带通滤波器损耗分析 | 第73-74页 |
§3.4. 金属平面偏馈反射面天线及其增益提高方案 | 第74-85页 |
§3.4.1. 金属平面偏馈反射面天线 | 第74-77页 |
§3.4.2. 直接扩展辐射口面提高增益 | 第77-80页 |
§3.4.3. 增加周期性矩形槽提高增益 | 第80-84页 |
§3.4.4. 两种方法增益提升效果对比 | 第84-85页 |
§3.5. 本章小结 | 第85-86页 |
[参考文献] | 第86-88页 |
第四章 具有宽带轴比特性的圆极化贴片天线 | 第88-104页 |
§4.1. 引言 | 第88-89页 |
§4.2. 圆极化波及其轴比影响因素 | 第89-91页 |
§4.3. 宽带巴伦设计与测试 | 第91-93页 |
§4.4. 宽带圆极化天线分析与设计 | 第93-96页 |
§4.5. 宽带圆极化天线加工和测试 | 第96-100页 |
§4.6. 本章小结 | 第100-101页 |
[参考文献] | 第101-104页 |
第五章 车载卫星通信阵列天线 | 第104-122页 |
§5.1. 引言 | 第104页 |
§5.2. 天线子单元设计 | 第104-107页 |
§5.3. 阵列单元设计 | 第107-113页 |
§5.4. 整体阵列设计加工及分析 | 第113-116页 |
§5.5. 本章小结 | 第116-118页 |
[参考文献] | 第118-122页 |
结论与展望 | 第122-124页 |
作者简介 | 第124-126页 |
致谢 | 第126页 |