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宽带圆极化天线与太赫兹关键技术的研究

摘要第5-7页
Abstract第7-9页
绪论第12-24页
    §0.1. 相关领域研究背景与现状第12-15页
        §0.1.1. 太赫兹技术的研究背景与现状第12-14页
        §0.1.2. 宽带圆极化天线的研究背景与现状第14-15页
    §0.2. 论文研究目标和主要内容第15-18页
    [参考文献]第18-24页
第一章 基于太赫兹时域光谱技术的介质参数测量第24-48页
    §1.1. 引言第24页
    §1.2. 太赫兹时域光谱技术第24-29页
        §1.2.1. 太赫兹波的产生第24-26页
        §1.2.2. 太赫兹波的探测第26-27页
        §1.2.3. 时域光谱测试系统第27-29页
    §1.3. 参数测量理论与测试结果第29-44页
        §1.3.1. 介质参数提取方法及测试方案第29-33页
        §1.3.2. 测试环境及测试结果第33-43页
        §1.3.3. 各种材料对比分析第43-44页
    §1.4. 本章小结第44-45页
    [参考文献]第45-48页
第二章 太赫兹硅基波导类器件第48-70页
    §2.1. 引言第48页
    §2.2. MEMS加工工艺及流程第48-49页
    §2.3. MEMS直通波导加工与测试第49-56页
        §2.3.1. 加工结构层次选择第49-50页
        §2.3.2. 加工步骤及测试方法第50-52页
        §2.3.3. 直通波导测试结果及损耗模型建立第52-56页
    §2.4. MEMS椭圆腔体带通滤波器第56-60页
        §2.4.1. 椭圆腔体带通滤波器设计第56-59页
        §2.4.2. 椭圆腔体带通滤波器测试结果与损耗分析第59-60页
    §2.5. MEMS矩形腔体带通滤波器第60-63页
        §2.5.1. 矩形腔体带通滤波器设计第60-62页
        §2.5.2. 矩形腔体带通滤波器测试结果与损耗分析第62-63页
    §2.6. 太赫兹频率扫描天线第63-66页
    §2.7. 本章小结第66-67页
    [参考文献]第67-70页
第三章 太赫兹金属波导类器件第70-88页
    §3.1. 引言第70页
    §3.2. 金属直通波导加工与测试第70-72页
    §3.3. 金属带通滤波器第72-74页
        §3.3.1. 金属带通滤波器设计加工与测试第72-73页
        §3.3.2. 金属带通滤波器损耗分析第73-74页
    §3.4. 金属平面偏馈反射面天线及其增益提高方案第74-85页
        §3.4.1. 金属平面偏馈反射面天线第74-77页
        §3.4.2. 直接扩展辐射口面提高增益第77-80页
        §3.4.3. 增加周期性矩形槽提高增益第80-84页
        §3.4.4. 两种方法增益提升效果对比第84-85页
    §3.5. 本章小结第85-86页
    [参考文献]第86-88页
第四章 具有宽带轴比特性的圆极化贴片天线第88-104页
    §4.1. 引言第88-89页
    §4.2. 圆极化波及其轴比影响因素第89-91页
    §4.3. 宽带巴伦设计与测试第91-93页
    §4.4. 宽带圆极化天线分析与设计第93-96页
    §4.5. 宽带圆极化天线加工和测试第96-100页
    §4.6. 本章小结第100-101页
    [参考文献]第101-104页
第五章 车载卫星通信阵列天线第104-122页
    §5.1. 引言第104页
    §5.2. 天线子单元设计第104-107页
    §5.3. 阵列单元设计第107-113页
    §5.4. 整体阵列设计加工及分析第113-116页
    §5.5. 本章小结第116-118页
    [参考文献]第118-122页
结论与展望第122-124页
作者简介第124-126页
致谢第126页

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