| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 电阻阵列非均匀性校正技术国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 原始非均匀性信息的采集 | 第12-13页 |
| 1.2.2 非均匀性校正算法 | 第13页 |
| 1.2.3 非均匀性校正算法实现 | 第13-14页 |
| 1.3 本文的主要研究内容和结构安排 | 第14-16页 |
| 第2章 电阻元辐射输出测量方法研究 | 第16-28页 |
| 2.1 引言 | 第16-17页 |
| 2.2 电阻元辐射输出测量系统 | 第17-18页 |
| 2.3 稀疏网格非均匀性测试法研究 | 第18-22页 |
| 2.3.1 稀疏网格法 | 第18-22页 |
| 2.3.2 简化稀疏网格法 | 第22页 |
| 2.4 全屏驱动非均匀性测试法研究 | 第22-27页 |
| 2.4.1 PSF粗估计测试法 | 第23-26页 |
| 2.4.2 稀疏网格—PSF（点扩散函数）估计混合测试法 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 电阻阵列非均匀性分段线性校正法 | 第28-42页 |
| 3.1 引言 | 第28-29页 |
| 3.2 特征曲线 | 第29-32页 |
| 3.2.1 分段线性插值 | 第29-30页 |
| 3.2.2 三次样条插值 | 第30-31页 |
| 3.2.3 高次曲线拟合 | 第31-32页 |
| 3.3 特征曲线线性化 | 第32-36页 |
| 3.3.1 特征曲线线性化原理 | 第33-35页 |
| 3.3.2 标准特征曲线线性化 | 第35-36页 |
| 3.4 分段线性校正原理与步骤 | 第36-39页 |
| 3.5 分段线性校正算法仿真验证 | 第39-41页 |
| 3.5.1 模拟数值电阻阵列 | 第39页 |
| 3.5.2 非均匀性校正效果 | 第39-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 电阻阵列自适应校正算法研究 | 第42-55页 |
| 4.1 引言 | 第42-43页 |
| 4.2 算法模型建立 | 第43页 |
| 4.3 网络激活函数与目标函数 | 第43-44页 |
| 4.3.1 激活函数 | 第43-44页 |
| 4.3.2 目标函数 | 第44页 |
| 4.4 网络权值与偏差训练方法 | 第44-45页 |
| 4.5 特征曲线拟合 | 第45-47页 |
| 4.6 自适应校正算法原理与步骤 | 第47-51页 |
| 4.7 自适应校正算法仿真 | 第51-54页 |
| 4.8 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 算法硬件验证与分析 | 第55-67页 |
| 5.1 引言 | 第55页 |
| 5.2 电阻阵列非均匀性评价标准 | 第55页 |
| 5.3 FPGA硬件验证平台的可行性 | 第55-57页 |
| 5.4 非均匀性校正算法的硬件验证与分析 | 第57-66页 |
| 5.4.1 验证设计思想 | 第57-58页 |
| 5.4.2 实验步骤 | 第58-61页 |
| 5.4.3 实验结果与分析 | 第61-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及获得成果 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |