基于信号特征分析的模拟板级电路测试技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 图录 | 第9-11页 |
| 表录 | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 课题的背景及意义 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-20页 |
| 1.2.1 电子系统故障检测诊断 | 第14-17页 |
| 1.2.2 板级电路测试技术 | 第17-20页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第20-21页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第21-22页 |
| 第二章 模拟板级电路测试方法 | 第22-33页 |
| 2.1 模拟电路特性 | 第22-23页 |
| 2.2 模拟电路故障 | 第23-28页 |
| 2.2.1 模拟电路故障分类 | 第23-25页 |
| 2.2.2 基本元器件故障模型 | 第25-28页 |
| 2.3 模拟板级电路故障检测 | 第28-29页 |
| 2.4 模拟电路测试涉及的关键问题 | 第29-32页 |
| 2.4.1 测试生成技术 | 第30页 |
| 2.4.2 信号特征提取 | 第30-32页 |
| 2.4.3 故障检测方法 | 第32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 基于高斯牛顿迭代的测试信号生成技术 | 第33-45页 |
| 3.1 测试波形的选择 | 第33-35页 |
| 3.2 电路灵敏度模型的测试激励选择 | 第35-36页 |
| 3.3 基于高斯牛顿迭代的测试激励优化 | 第36-39页 |
| 3.4 应用实例及仿真结果分析 | 第39-44页 |
| 3.4.1 实验电路模型 | 第39-40页 |
| 3.4.2 目标函数的确立 | 第40页 |
| 3.4.3 实验仿真及结果分析 | 第40-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 基于时间序列相似度比较的故障检测方法 | 第45-60页 |
| 4.1 基于时间序列的信号模型 | 第45-46页 |
| 4.2 相似性度量方法 | 第46-49页 |
| 4.3 改进的距离度量算法 | 第49-51页 |
| 4.3.1 解决方案 | 第49-50页 |
| 4.3.2 算法实现 | 第50-51页 |
| 4.4 基于相似度匹配的故障检测方法 | 第51-53页 |
| 4.4.1 故障阈值确定 | 第51-52页 |
| 4.4.2 故障检测流程 | 第52-53页 |
| 4.5 电路故障检测仿真实例及结果分析 | 第53-59页 |
| 4.6 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 基于模拟特征分析的板级测试 | 第60-81页 |
| 5.1 模拟特征分析技术 | 第60-62页 |
| 5.2 测试系统总体设计 | 第62-64页 |
| 5.2.2 系统架构选择 | 第62页 |
| 5.2.3 控制机与外部设备通信方式 | 第62-63页 |
| 5.2.4 虚拟仪器技术 | 第63页 |
| 5.2.5 测试系统结构框架 | 第63-64页 |
| 5.3 系统硬件终端设计 | 第64-68页 |
| 5.3.1 硬件终端工作机制 | 第64-65页 |
| 5.3.2 测试信号生成 | 第65-66页 |
| 5.3.3 源电阻控制 | 第66页 |
| 5.3.4 信号数据采集 | 第66-67页 |
| 5.3.5 辅助信号模块 | 第67-68页 |
| 5.4 系统上层控制软件设计 | 第68-75页 |
| 5.4.1 系统自检模块 | 第69-70页 |
| 5.4.2 测试信号生成模块 | 第70-71页 |
| 5.4.3 响应信号特征提取模块 | 第71-72页 |
| 5.4.4 特征曲线相似度比较模块 | 第72-73页 |
| 5.4.5 系统调用接口 | 第73-75页 |
| 5.5 系统测试与结果分析 | 第75-79页 |
| 5.6 本章小结 | 第79-81页 |
| 总结 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-89页 |
| 作者简介 攻读硕士学位完成的主要工作 | 第89页 |
