| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 测试的意义 | 第14页 |
| 1.2 国内外对FPGA芯片测试研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 当前FPGA测试的主流方法 | 第16-17页 |
| 1.4 论文的主要研究内容和结构 | 第17-19页 |
| 1.4.1 论文的主要研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4.2 论文的结构 | 第18-19页 |
| 第二章 DUT——Spartan-3系列FPGA芯片 | 第19-32页 |
| 2.1 可编程互连资源 | 第19-21页 |
| 2.1.1 分级布线资源 | 第19-20页 |
| 2.1.2 开关矩阵 | 第20-21页 |
| 2.2 可配置逻辑模块(CLB) | 第21-24页 |
| 2.3 输入/输出模块(IOB) | 第24-25页 |
| 2.4 Block RAM和乘法器模块 | 第25-27页 |
| 2.5 FPGA的配置技术 | 第27-31页 |
| 2.5.1 FPGA的配置模式 | 第27-29页 |
| 2.5.2 FPGA芯片的配置流程 | 第29-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于UltraFLEX的测试系统搭建 | 第32-42页 |
| 3.1 ATE测试方法和程序开发 | 第32-36页 |
| 3.1.1 ATE——UltraFLEX的硬件结构 | 第32-33页 |
| 3.1.2 ATE——UltraFLEX的软件结构 | 第33-35页 |
| 3.1.3 测试程序的开发 | 第35-36页 |
| 3.1.4 ATE测试的挑战 | 第36页 |
| 3.2 测试接口电路 | 第36-41页 |
| 3.2.1 传输线、电阻匹配理论 | 第37-38页 |
| 3.2.2 布局 | 第38-39页 |
| 3.2.3 布线 | 第39-41页 |
| 3.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 FPGA可编程资源的测试方法 | 第42-56页 |
| 4.1 FPGA中的故障模型 | 第42-44页 |
| 4.2 输入输出功能块(IOB)的测试 | 第44-45页 |
| 4.3 可配置功能块(CLB)的测试 | 第45-51页 |
| 4.3.1 CLB矩阵的测试及故障定位 | 第45-47页 |
| 4.3.2 单个CLB的测试 | 第47-48页 |
| 4.3.3 SLICE模块的测试 | 第48-51页 |
| 4.4 互连资源测试 | 第51-55页 |
| 4.4.1 互连资源的故障模型和假定 | 第51-52页 |
| 4.4.2 三次编程配置的测试过程 | 第52-53页 |
| 4.4.3 六次编程配置的测试过程 | 第53-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 FPGA实测 | 第56-64页 |
| 5.1 测试方法分析 | 第56-57页 |
| 5.2 测试环境 | 第57-59页 |
| 5.2.1 测试系统简介 | 第57-58页 |
| 5.2.2 测试电路接口 | 第58-59页 |
| 5.3 测试实现 | 第59-61页 |
| 5.3.1 配置过程 | 第59-60页 |
| 5.3.2 测试设计流程 | 第60-61页 |
| 5.4 芯片测试 | 第61-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
