面向嵌入式C的软件缺陷检测技术的研究与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景 | 第10页 |
| ·研究目的和意义 | 第10-12页 |
| ·主要内容 | 第12页 |
| ·论文结构 | 第12-14页 |
| 第二章 软件测试 | 第14-22页 |
| ·软件测试的概念 | 第14-16页 |
| ·软件质量保证及意义 | 第14-15页 |
| ·软件测试的发展和前景 | 第15-16页 |
| ·软件测试方法 | 第16-19页 |
| ·黑盒测试和白盒测试 | 第17-18页 |
| ·静态测试和动态测试 | 第18-19页 |
| ·基于缺陷模式的静态测试 | 第19-21页 |
| ·静态分析的检测方法 | 第19-20页 |
| ·静态测试的性能指标 | 第20页 |
| ·嵌入式C缺陷模式的分类 | 第20-21页 |
| ·静态测试工具介绍 | 第21-22页 |
| 第三章 面向嵌入式C的静态分析工具 | 第22-29页 |
| ·DTSEMBED系统概述 | 第22-24页 |
| ·系统结构设计 | 第22-24页 |
| ·系统流程设计 | 第24页 |
| ·系统详细设计 | 第24-29页 |
| ·抽象语法树 | 第24-26页 |
| ·符号表 | 第26页 |
| ·控制流图 | 第26页 |
| ·区间运算 | 第26-27页 |
| ·缺陷模式状态机 | 第27-29页 |
| 第四章 缺陷模式的描述和分析 | 第29-50页 |
| ·缺陷模式状态机的设计 | 第29-38页 |
| ·状态机 | 第31-33页 |
| ·状态集合 | 第33页 |
| ·状态转换 | 第33-34页 |
| ·转换条件 | 第34-38页 |
| ·缺陷模式状态机实例的设计 | 第38-44页 |
| ·嵌入式C缺陷模式的描述 | 第44-47页 |
| ·缺陷模式的分析 | 第47-50页 |
| ·故障检测属性 | 第47-48页 |
| ·基于数据流的缺陷分析 | 第48-49页 |
| ·不可达路径 | 第49-50页 |
| 第五章 面向嵌入式C语言的缺陷模式检测 | 第50-65页 |
| ·通用算法 | 第50-51页 |
| ·多进程共享变量缺陷 | 第51-55页 |
| ·多进程共享变量缺陷模式总结 | 第51-53页 |
| ·多进程共享变量缺陷状态机 | 第53-54页 |
| ·多进程共享变量缺陷的检测算法 | 第54-55页 |
| ·中断处理程序和主程序寄存器组冲突 | 第55-57页 |
| ·中断处理程序和主程序寄存器组冲突缺陷模式总结 | 第55-56页 |
| ·中断处理程序和主程序寄存器组冲突缺陷的状态机 | 第56页 |
| ·中断处理程序和主程序寄存器组冲突缺陷的检测算法 | 第56-57页 |
| ·数据类型溢出 | 第57-59页 |
| ·数据类型溢出缺陷模式总结 | 第57-58页 |
| ·数据类型溢出缺陷的状态机 | 第58页 |
| ·数据类型溢出缺陷的检测算法 | 第58-59页 |
| ·非法计算 | 第59-61页 |
| ·非法计算缺陷模式总结 | 第59-60页 |
| ·非法计算缺陷的状态机 | 第60页 |
| ·非法计算缺陷的检测算法 | 第60-61页 |
| ·变量赋值未使用问题 | 第61-63页 |
| ·变量赋值未使用缺陷模式总结 | 第61-62页 |
| ·变量赋值未使用缺陷模式状态机 | 第62页 |
| ·变量赋值未使用缺陷模式检测算法 | 第62-63页 |
| ·实验结果 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-66页 |
| ·工作总结 | 第65页 |
| ·展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第69页 |
