| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 忆阻器简介 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 忆阻器温度特性研究的意义 | 第11-13页 |
| 1.4 忆阻器高速测试研究的意义 | 第13页 |
| 1.5 论文的主要内容和结构安排 | 第13-15页 |
| 2 忆阻器变温测试方法及测试系统研究 | 第15-24页 |
| 2.1 忆阻器直流测试介绍 | 第15-16页 |
| 2.2 忆阻器脉冲测试介绍 | 第16-18页 |
| 2.3 忆阻器稳态判定 | 第18页 |
| 2.4 忆阻器变温测试方法 | 第18-20页 |
| 2.5 忆阻器变温系统研制 | 第20-23页 |
| 2.6 小结 | 第23-24页 |
| 3 忆阻器温度特性研究 | 第24-38页 |
| 3.1 忆阻器材料AGINSBTE（AIST）介绍 | 第24-26页 |
| 3.2 忆阻器器件单元制备 | 第26-27页 |
| 3.3 忆阻器温度特性测试 | 第27-32页 |
| 3.4 忆阻器温度特性测试分析 | 第32-37页 |
| 3.5 小结 | 第37-38页 |
| 4 忆阻器高速开关特性研究 | 第38-46页 |
| 4.1 高速电路介绍 | 第38-39页 |
| 4.2 高速测试系统的搭建 | 第39-42页 |
| 4.3 高速电路的验证 | 第42-43页 |
| 4.4 忆阻器高速开关特性 | 第43-45页 |
| 4.5 小结 | 第45-46页 |
| 5 总结及展望 | 第46-48页 |
| 5.1 总结 | 第46页 |
| 5.2 展望 | 第46-48页 |
| 致谢 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |