| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 二维温度场分布反演的意义 | 第12-13页 |
| 1.2 燃烧场温度测量技术发展现状 | 第13-18页 |
| 1.2.1 接触式测温技术 | 第13-14页 |
| 1.2.2 非接触式测温技术 | 第14-18页 |
| 1.3 TDLAS技术国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.4 温度场分布重建研究现状 | 第19-20页 |
| 1.5 本文的研究内容 | 第20-22页 |
| 第二章 可调谐半导体激光吸收光谱技术基本原理 | 第22-42页 |
| 2.1 TDLAS技术测量基本原理 | 第22-31页 |
| 2.1.1 分子吸收光谱简介 | 第22-23页 |
| 2.1.2 H_2O的吸收光谱特征简介 | 第23-24页 |
| 2.1.3 TDLAS测量原理 | 第24-31页 |
| 2.2 可调谐半导体激光吸收光谱技术方法原理 | 第31-37页 |
| 2.2.1 直接吸收光谱技术 | 第31-33页 |
| 2.2.2 波长调制光谱技术 | 第33-36页 |
| 2.2.3 直接吸收和波长调制技术分析对比 | 第36-37页 |
| 2.3 可调谐半导体激光吸收光谱技术温度测量原理 | 第37-40页 |
| 2.3.1 多普勒展宽测温原理 | 第37-39页 |
| 2.3.2 双线强比值法测温原理 | 第39-40页 |
| 2.4 本章总结 | 第40-42页 |
| 第三章 HITRAN光谱数据库可视化软件开发 | 第42-58页 |
| 3.1 光谱数据库(HITRAN) | 第42页 |
| 3.2 光谱数据库(HITRAN)可视化软件开发 | 第42-57页 |
| 3.2.1 光谱数据库(HITRAN)的数据获取 | 第42-48页 |
| 3.2.2 光谱数据库(HITRAN)的数据过滤和选取 | 第48-50页 |
| 3.2.3 内配分函数的计算 | 第50-51页 |
| 3.2.4 线强的计算 | 第51-53页 |
| 3.2.5 吸收系数的计算 | 第53-56页 |
| 3.2.6 吸收光谱的计算 | 第56-57页 |
| 3.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 二维温度场分布反演可视化软件设计 | 第58-74页 |
| 4.1 TDLAS温度测量原理 | 第58页 |
| 4.2 场分布重建算法 | 第58-63页 |
| 4.2.1 代数迭代算法ART | 第59-63页 |
| 4.3 开发语言的选择 | 第63-64页 |
| 4.4 程序架构 | 第64-65页 |
| 4.5 可视化界面的设计 | 第65-68页 |
| 4.6 温度场重建的结果 | 第68-74页 |
| 第五章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 5.1 总结 | 第74-75页 |
| 5.2 创新点总结 | 第75页 |
| 5.3 研究展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文和研究成果 | 第84-86页 |
| 附录 作者简历 | 第86页 |