| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 制糖工艺与课题背景 | 第12-13页 |
| 1.2 课题研究目的与意义 | 第13-14页 |
| 1.3 煮糖结晶自动化研究现状 | 第14-20页 |
| 1.3.1 国内外晶体或颗粒状图像采集、处理与识别研究现状 | 第15-18页 |
| 1.3.2 国内外糖晶体图像识别研究现状 | 第18-20页 |
| 1.4 本文创新点与结构安排 | 第20-24页 |
| 1.4.1 创新点 | 第20-21页 |
| 1.4.2 结构安排 | 第21-24页 |
| 第2章 糖晶体图像的初步预处理 | 第24-52页 |
| 2.0 引言 | 第24-25页 |
| 2.1 糖晶体显微图像的采集与去水印 | 第25-27页 |
| 2.1.1 样本图像采集 | 第25-26页 |
| 2.1.2 样本图像去水印 | 第26-27页 |
| 2.2 糖晶体图像的特点分析 | 第27-28页 |
| 2.3 灰度调整 | 第28-30页 |
| 2.4 去噪处理 | 第30-33页 |
| 2.4.1 嗓声种类及其影响 | 第30-31页 |
| 2.4.2 去噪方法比较与选择 | 第31-32页 |
| 2.4.3 中值滤波的应用 | 第32-33页 |
| 2.5 图像分割 | 第33-39页 |
| 2.5.1 图像分割算法概述 | 第33-37页 |
| 2.5.2 灰度直方图特点分析 | 第37-38页 |
| 2.5.3 基于标记的分水岭分割 | 第38-39页 |
| 2.6 基于图论的图像分割 | 第39-43页 |
| 2.6.1 GrabCut算法原理 | 第40-41页 |
| 2.6.2 GrabCut算法的实现及应用 | 第41-43页 |
| 2.7 填充孔洞和去除小区域 | 第43-44页 |
| 2.8 形态学处理 | 第44-50页 |
| 2.8.1 数学形态学操作概述 | 第44-45页 |
| 2.8.2 结构元素 | 第45-47页 |
| 2.8.3 膨胀与腐蚀 | 第47-49页 |
| 2.8.4 开运算处理 | 第49页 |
| 2.8.5 闭运算处理 | 第49-50页 |
| 2.9 本章小结 | 第50-52页 |
| 第3章 糖晶体粘连颗粒的二次分割 | 第52-66页 |
| 3.1 引言 | 第52-54页 |
| 3.2 目标区域凹点检测方法 | 第54-61页 |
| 3.2.1 概述 | 第54-55页 |
| 3.2.2 基于轮廓尖锐度的图像角点检测 | 第55-56页 |
| 3.2.3 孔洞提取和标记 | 第56-57页 |
| 3.2.4 目标区域-外轮廓凹点检测方法 | 第57-59页 |
| 3.2.5 目标区域-内孔洞凹点检测方法 | 第59-61页 |
| 3.3 凹点配对方法 | 第61-64页 |
| 3.4 分割方法与分割效果 | 第64页 |
| 3.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第4章 糖晶体的特征提取与目标拟合 | 第66-88页 |
| 4.1 引言 | 第66-68页 |
| 4.2 边缘提取和细化 | 第68-73页 |
| 4.2.1 Roberts算子 | 第69-70页 |
| 4.2.2 Sobel算子 | 第70-71页 |
| 4.2.3 Canny算子 | 第71-73页 |
| 4.3 主特征直线的提取 | 第73-81页 |
| 4.3.1 直线检测方法概论 | 第73-74页 |
| 4.3.2 Hough变换法原理与实现 | 第74-78页 |
| 4.3.3 全局直线的局部化 | 第78-80页 |
| 4.3.4 提取主特征直线 | 第80-81页 |
| 4.4 颗粒识别与提取 | 第81-86页 |
| 4.4.1 提取晶体长度 | 第82-83页 |
| 4.4.2 提取晶体宽度 | 第83-84页 |
| 4.4.3 确定拟合形状和位置 | 第84-86页 |
| 4.5 本章小结 | 第86-88页 |
| 第5章 系统设计与实验 | 第88-102页 |
| 5.1 引言 | 第88页 |
| 5.2 糖晶体颗粒识别开发环境 | 第88-89页 |
| 5.3 系统组成与介绍 | 第89-97页 |
| 5.3.1 原始图像获取模块 | 第89页 |
| 5.3.2 彩色图像分割与图像预处理模块 | 第89-91页 |
| 5.3.3 粘连晶体二次分割模块 | 第91页 |
| 5.3.4 糖晶体颗粒识别和拟合模块 | 第91-92页 |
| 5.3.5 系统处理中间结果 | 第92-96页 |
| 5.3.6 部分样本的最终拟合结果 | 第96-97页 |
| 5.4 系统性能分析 | 第97-100页 |
| 5.4.1 系统性能指标 | 第97-98页 |
| 5.4.2 糖晶体颗粒拟合准确率 | 第98-99页 |
| 5.4.3 糖晶体图像识别率 | 第99-100页 |
| 5.5 人机界面及实际应用 | 第100页 |
| 5.6 本章小结 | 第100-102页 |
| 第6章 总结与展望 | 第102-106页 |
| 6.1 本文主要内容与研究成果 | 第102-104页 |
| 6.2 工作改进与展望 | 第104-106页 |
| 参考文献 | 第106-112页 |
| 致谢 | 第112-114页 |
| 攻读硕士学位期间取得的科研成果 | 第114页 |