半实物仿真实验系统的设计与应用
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 课题研究的意义 | 第8-9页 |
| 1.2 研究背景 | 第9-11页 |
| 1.2.1 半实物仿真研究进展 | 第9页 |
| 1.2.2 解耦控制研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.3 实验装置介绍 | 第10-11页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第11-13页 |
| 2 系统分析及建模 | 第13-22页 |
| 2.1 过程控制系统分析 | 第13-17页 |
| 2.1.1 实验辨识法 | 第13页 |
| 2.1.2 时域分析法 | 第13-17页 |
| 2.1.3 频域分析法 | 第17页 |
| 2.2 实验系统建模及系统设计方案 | 第17-22页 |
| 2.2.1 液位-温度实验系统建模 | 第17-19页 |
| 2.2.2 半实物仿真系统实验方案 | 第19-22页 |
| 3 解耦控制系统研究 | 第22-28页 |
| 3.1 关联系统 | 第22-24页 |
| 3.1.1 关联系统及影响 | 第22页 |
| 3.1.2 关联系统分析方法 | 第22-24页 |
| 3.1.3 消减关联系统耦合的方法 | 第24页 |
| 3.2 解耦控制 | 第24-28页 |
| 3.2.1 关联系统解耦条件 | 第25-26页 |
| 3.2.2 解耦控制方案 | 第26-28页 |
| 4 控制系统设计 | 第28-40页 |
| 4.1 过程控制系统 | 第28-29页 |
| 4.1.1 集散控制系统(DCS) | 第28-29页 |
| 4.1.2 现场总线控制系统(FCS) | 第29页 |
| 4.1.3 控制系统结构 | 第29页 |
| 4.2 下位机设计 | 第29-34页 |
| 4.2.1 PLC选型与系统设计 | 第29-32页 |
| 4.2.2 PLC软件设计 | 第32-34页 |
| 4.3 上位机监控系统设计 | 第34-40页 |
| 4.3.1 WinCC简介 | 第34-35页 |
| 4.3.2 监控系统结构及设计 | 第35-37页 |
| 4.3.3 集成环境下WinCC组态设计 | 第37-40页 |
| 5 解耦控制实验系统的开发 | 第40-55页 |
| 5.1 PLC控制程序开发 | 第40-48页 |
| 5.1.1 PLC程序结构 | 第40-42页 |
| 5.1.2 单回路控制模块设计 | 第42-46页 |
| 5.1.3 温度、解耦控制模块及系统整体设计 | 第46-48页 |
| 5.2 基于WinCC的监控系统开发 | 第48-49页 |
| 5.3 实验结果及分析 | 第49-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
