摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
符号说明 | 第9-10页 |
第一章 绪论 | 第10-17页 |
1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
1.2 网络可靠性研究概述 | 第10-11页 |
1.3 网路可靠性模型 | 第11-13页 |
1.3.1 传统的网络可靠性模型 | 第11-12页 |
1.3.2 新型可靠性模型 | 第12-13页 |
1.4 可靠性计算 | 第13-15页 |
1.4.1 可靠性计算的精确算法 | 第13-14页 |
1.4.2 可靠性计算的近似算法 | 第14-15页 |
1.5 本文的主要工作及创新点 | 第15-16页 |
1.5.1 本文的主要工作 | 第15-16页 |
1.5.2 本文的创新点 | 第16页 |
1.6 本章小结 | 第16-17页 |
第二章 直径限制的可靠性模型以及期望信息延迟模型 | 第17-23页 |
2.1 直径限制的可靠性模型 | 第17-19页 |
2.1.1 直径限制下二终端网络可靠性 | 第17-19页 |
2.2 期望信息延迟模型 | 第19-22页 |
2.3 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 期望路径限制下的二终端网络可靠性 | 第23-34页 |
3.1 数学模型以及问题的形成 | 第23-24页 |
3.1.1 二终端可靠性模型 | 第23页 |
3.1.2 问题的形成 | 第23-24页 |
3.2 问题的分析 | 第24-25页 |
3.3 问题的解决以及优化算法 | 第25-28页 |
3.3.1 问题解决 | 第25-26页 |
3.3.2 改进法则及算法 | 第26-28页 |
3.4 实例分析 | 第28-33页 |
3.4.1 寻找最优子图 | 第28-30页 |
3.4.2 δ-极大图与可靠性 | 第30-32页 |
3.4.3 优化算法与枚举法对比 | 第32-33页 |
3.5 本章小结 | 第33-34页 |
第四章 直径限制下的期望路径研究 | 第34-43页 |
4.1 直径限制下的期望路径模型 | 第34-35页 |
4.2 检测D限制下的无关节点 | 第35页 |
4.3 δ(D)和Rel_(st)(D)的性质及算法 | 第35-38页 |
4.4 实例分析 | 第38-42页 |
(a) 寻找s-t路径并计算Rel_(st)(D)和δ(D) | 第38-40页 |
(b) 检测无关节点的算法 | 第40页 |
(c) 寻找期望路径δ_0限制下的最优子图 | 第40-42页 |
4.5 本章小结 | 第42-43页 |
第五章 总结与展望 | 第43-45页 |
5.1 本文总结 | 第43页 |
5.2 研究结果以及展望 | 第43-45页 |
5.2.1 研究结果 | 第43页 |
5.2.2 本文不足与研究展望 | 第43-45页 |
参考文献 | 第45-48页 |
致谢 | 第48-49页 |
附录1 | 第49-50页 |
攻读硕士期间发表论文 | 第50页 |