| 致谢 | 第4-7页 |
| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 1 绪论 | 第13-31页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 光腔衰荡高反射率测量技术原理介绍 | 第14-17页 |
| 1.3 光腔衰荡高反射率测量方法概述 | 第17-23页 |
| 1.3.1 损耗比较法 | 第17-22页 |
| 1.3.2 多腔镜轮换法 | 第22-23页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第23-29页 |
| 1.4.1 研究领域拓展 | 第23-24页 |
| 1.4.2 光腔衰荡测量系统性能改善 | 第24-27页 |
| 1.4.3 光腔衰荡测量系统的仪器化 | 第27-29页 |
| 1.4.4 研究现状小结 | 第29页 |
| 1.5 本论文研究内容 | 第29-31页 |
| 2 光腔衰荡时间常数提取算法的对比与改进 | 第31-61页 |
| 2.1 引言 | 第31页 |
| 2.2 光腔衰荡时间常数的提取算法 | 第31-46页 |
| 2.2.1 非线性最小二乘拟合算法 | 第32-35页 |
| 2.2.2 加权线性最小二乘方法 | 第35-37页 |
| 2.2.3 连续积分法（线性回归求和法） | 第37-38页 |
| 2.2.4 频域分析法 | 第38-40页 |
| 2.2.5 衰荡时间提取算法的对比 | 第40-46页 |
| 2.3 加权线性最小二乘拟合算法的研究与改进 | 第46-53页 |
| 2.3.1 算法理论推导 | 第46-51页 |
| 2.3.2 实验验证及结果讨论 | 第51-53页 |
| 2.4 基于空间平滑算子的衰荡信号预处理算法 | 第53-59页 |
| 2.4.1 空间滤波平滑算法理论推导 | 第55-57页 |
| 2.4.2 仿真分析 | 第57-58页 |
| 2.4.3 实验验证 | 第58-59页 |
| 2.5 小结 | 第59-61页 |
| 3 光腔衰荡系统光电器件参数对测量结果的影响分析 | 第61-86页 |
| 3.1 引言 | 第61页 |
| 3.2 系统上升时间对衰荡信号的调制 | 第61-69页 |
| 3.2.1 系统上升时间对衰荡信号的调制偏移 | 第61-64页 |
| 3.2.2 调制偏移项的应对策略 | 第64-69页 |
| 3.3 系统噪声分布形式对衰荡信号分析结果的影响 | 第69-76页 |
| 3.3.1 泊松分布噪声对信号分析结果的影响 | 第69-72页 |
| 3.3.2 混合噪声模型对信号分析结果的影响 | 第72页 |
| 3.3.3 噪声均方根值与光强的相关性 | 第72-76页 |
| 3.4 数据采样分辨率对衰荡信号分析的影响 | 第76-81页 |
| 3.4.1 数据采样分辨率对理想高斯噪声的影响 | 第77-78页 |
| 3.4.2 数据采样分辨率与系统上升时间对衰荡信号的共同影响 | 第78-79页 |
| 3.4.3 数据采样分辨率对泊松噪声的影响 | 第79-81页 |
| 3.5 实验验证 | 第81-82页 |
| 3.6 光腔衰荡系统参数匹配关系探究 | 第82-85页 |
| 3.7 小结 | 第85-86页 |
| 4 衰荡腔参数失调对测量结果的影响分析及调腔方法探究 | 第86-105页 |
| 4.1 引言 | 第86页 |
| 4.2 腔参数失调对光腔衰荡技术测量结果的影响 | 第86-95页 |
| 4.2.1 腔参数失调时的模式耦合 | 第87-92页 |
| 4.2.2 多横模运行对测量结果的影响 | 第92-95页 |
| 4.3 调腔评价指标探究 | 第95-104页 |
| 4.3.1 现有调腔评价指标 | 第95-99页 |
| 4.3.2 调腔评价指标探究 | 第99-103页 |
| 4.3.3 腔结构优化探究 | 第103-104页 |
| 4.4 小结 | 第104-105页 |
| 5 总结与展望 | 第105-109页 |
| 5.1 论文主要工作 | 第105-106页 |
| 5.2 论文创新点 | 第106页 |
| 5.3 现在存在的问题及展望 | 第106-109页 |
| 参考文献 | 第109-117页 |
| 作者简历及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第117页 |