| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第9-17页 |
| 1.2.1 结构探测超分辨方法的研究现状 | 第10-16页 |
| 1.2.2 液晶空间光调制器的发展现状 | 第16-17页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 结构探测共焦超分辨方法的原理分析 | 第19-36页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 共焦显微系统相干成像理论 | 第19-27页 |
| 2.2.1 薄透镜的相干成像理论 | 第20-22页 |
| 2.2.2 共焦显微系统相干成像原理分析 | 第22-23页 |
| 2.2.3 共焦显微系统相干传递函数 | 第23-24页 |
| 2.2.4 共焦显微系统针孔对分辨率的影响 | 第24-27页 |
| 2.3 结构探测共焦显微超分辨原理分析 | 第27-35页 |
| 2.3.1 结构探测共焦显微系统的点扩散函数 | 第28-29页 |
| 2.3.2 结构探测共焦显微系统的相干传递函数 | 第29-32页 |
| 2.3.3 影响结构探测共焦超分辨特性的主要参数分析 | 第32-35页 |
| 2.3.3.1 探测针孔大小对系统特性的影响 | 第32-34页 |
| 2.3.3.2 结构探测函数的直流偏置对结构探测特性的影响 | 第34页 |
| 2.3.3.3 结构探测函数的频率对结构探测特性的影响 | 第34-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 分辨率评价方法及空间光调制器的基本原理 | 第36-45页 |
| 3.1 引言 | 第36页 |
| 3.2 相干成像系统的分辨率评价 | 第36-40页 |
| 3.2.1 截止频率评价方法 | 第36-37页 |
| 3.2.2 两点分辨评价方法 | 第37-39页 |
| 3.2.3 半高全宽评价方法 | 第39-40页 |
| 3.2.4 系统分辨率评价方法小结 | 第40页 |
| 3.3 液晶空间光调制器的调制原理 | 第40-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 实验系统设计与验证 | 第45-76页 |
| 4.1 引言 | 第45-49页 |
| 4.1.1 系统控制程序 | 第45-47页 |
| 4.1.2 关键实验器件 | 第47-48页 |
| 4.1.3 实验系统的理论指标 | 第48-49页 |
| 4.2 基本共焦扫描显微系统实验 | 第49-53页 |
| 4.2.1 实验系统设计 | 第49-50页 |
| 4.2.2 实验搭建及实验结果分析 | 第50-53页 |
| 4.3 基于CCD的虚拟结构探测共焦超分辨实验 | 第53-60页 |
| 4.3.1 实验系统设计 | 第53-54页 |
| 4.3.2 实验系统搭建及实验结果分析 | 第54-60页 |
| 4.3.2.1 实验结果及分析 | 第55-59页 |
| 4.3.2.2 虚拟结构探测共焦超分辨实验结果小结 | 第59-60页 |
| 4.4 基于空间光调制器的结构探测共焦超分辨系统实验 | 第60-75页 |
| 4.4.1 基于SLM的结构探测共焦显微系统实验系统设计 | 第60页 |
| 4.4.2 空间光调制器的调制特性测试 | 第60-68页 |
| 4.4.2.1 空间光调制器的振幅调制特性测试 | 第61-64页 |
| 4.4.2.2 空间光调制器对艾里斑的调制效果测试 | 第64-67页 |
| 4.4.2.3 空间光调制器的调制特性测定实验小结 | 第67-68页 |
| 4.4.3 基于SLM的结构探测共焦显微实验系统搭建及实验结果分析 | 第68-75页 |
| 4.4.3.1 实验系统搭建 | 第68-70页 |
| 4.4.3.2 实验结果及分析 | 第70-74页 |
| 4.4.3.3 基于SLM的结构探测共焦超分辨实验总结 | 第74-75页 |
| 4.5 本章小结 | 第75-76页 |
| 结论 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及其它成果 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
