| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 选题背景与研究意义 | 第9-10页 |
| 1.1.1 机载系统电子化带来的问题 | 第9页 |
| 1.1.2 论文研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外的发展现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 机载电子系统BIT的发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 寿命预测的发展现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文的研究内容及结构安排 | 第12-14页 |
| 1.3.1 论文的研究内容 | 第12页 |
| 1.3.2 论文的结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 A320机载系统BIT | 第14-24页 |
| 2.1 A320机载系统BIT概述 | 第14-15页 |
| 2.2 A320机载系统BIT功能 | 第15-17页 |
| 2.3 各类型系统的BIT及其数据结构 | 第17-19页 |
| 2.4 MCDU上的维护操作和显示 | 第19-24页 |
| 第三章 机载电子系统寿命模型 | 第24-37页 |
| 3.1 影响机载电子设备寿命的主要因素 | 第24-25页 |
| 3.2 可靠性与寿命预测 | 第25-30页 |
| 3.2.1 可靠性指标 | 第25-28页 |
| 3.2.2 常用寿命分布函数 | 第28-30页 |
| 3.3 机载电子系统寿命模型 | 第30-36页 |
| 3.3.1 常见机载电子系统寿命模型 | 第30-34页 |
| 3.3.2 实例 | 第34-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 机载电子设备寿命分布与预估方法研究 | 第37-47页 |
| 4.1 机载电子设备寿命预测 | 第37-38页 |
| 4.2 机载电子设备生命周期特征参数 | 第38-39页 |
| 4.3 基于正态拟合的机载电子设备寿命预估 | 第39-40页 |
| 4.4 算例 | 第40-46页 |
| 4.4.1 数据预处理 | 第40-42页 |
| 4.4.2 幂变换及正态分布拟合优度测试 | 第42-45页 |
| 4.4.3 HG1050AD10总体均值方差的区间估计 | 第45-46页 |
| 4.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 机载电子系统寿命预测模型 | 第47-52页 |
| 5.1 基于GM(1,1)的寿命预测模型 | 第47-49页 |
| 5.1.1 灰色GM(1,1)模型 | 第47-48页 |
| 5.1.2 基于GM(1,1)的机载电子系统寿命预测 | 第48-49页 |
| 5.2 算例 | 第49-51页 |
| 5.2.1 建立系统模型 | 第49页 |
| 5.2.2 样本筛选 | 第49-50页 |
| 5.2.3 系统寿命预测 | 第50-51页 |
| 5.3 本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 作者简介 | 第57页 |