| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 本文研究背景和意义 | 第9-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3.1 电容检测技术发展现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 混沌理论及其在信号检测中的应用发展现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文的主要工作与内容安排 | 第14-16页 |
| 1.4.1 本文主要内容 | 第14-15页 |
| 1.4.2 本文文章结构 | 第15-16页 |
| 第2章 位移检测所用电容传感器原理简介 | 第16-24页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 电容传感器分类 | 第16-20页 |
| 2.3 差动变间距式电容传感器原理 | 第20-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-24页 |
| 第3章 检测电容信号的常规方法简介 | 第24-37页 |
| 3.1 引言 | 第24页 |
| 3.2 常规小信号检测方法 | 第24-29页 |
| 3.2.1 滤波 | 第25-26页 |
| 3.2.2 调制放大与解调 | 第26-29页 |
| 3.3 锁相放大器方法原理 | 第29-33页 |
| 3.4 锁相放大器方法在电容测量中的应用 | 第33-36页 |
| 3.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 基于相轨迹图的混沌方法 | 第37-50页 |
| 4.1 引言 | 第37页 |
| 4.2 混沌振子基本理论 | 第37-39页 |
| 4.2.1 混沌的概念 | 第37-38页 |
| 4.2.2 混沌的基本特征 | 第38-39页 |
| 4.3 基于Duffing振子的相轨迹图观测法 | 第39-46页 |
| 4.3.1 Duffing振子模型与分析 | 第40-44页 |
| 4.3.2 基于Duffing振子的相轨迹图观测法应用 | 第44-46页 |
| 4.4 仿真分析 | 第46-49页 |
| 4.4.1 Duffing混沌检测系统对三种噪声的抗噪性分析 | 第47-48页 |
| 4.4.2 锁相放大器与Duffing混沌检测系统的检测精度仿真对比 | 第48-49页 |
| 4.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 基于扩展FLOQUENT乘子的混沌方法 | 第50-61页 |
| 5.1 引言 | 第50页 |
| 5.2 扩展Floquent乘子的计算方法 | 第50-52页 |
| 5.3 基于扩展Floquent算子的混沌方法 | 第52-55页 |
| 5.3.1 微弱信号幅值的估计过程 | 第52-54页 |
| 5.3.2 基于扩展Floquent乘子的混沌方法应用 | 第54-55页 |
| 5.4 仿真分析 | 第55-59页 |
| 5.4.1 程序实现 | 第55-58页 |
| 5.4.2 仿真结果分析 | 第58-59页 |
| 5.5 本章小结 | 第59-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
