基于偏微分方程的纳米颗粒尺寸测量方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·课题背景和研究意义 | 第8页 |
| ·纳米颗粒尺寸测量方法现状分析 | 第8-10页 |
| ·基于图像处理的颗粒测量现状分析 | 第10-13页 |
| ·基于图像处理的颗粒测量国内外现状分析 | 第10-12页 |
| ·纳米颗粒测量的关键技术 | 第12-13页 |
| ·基于偏微分方程的图像处理方法现状分析 | 第13-16页 |
| ·论文的组织结构 | 第16-18页 |
| 第二章 基于偏微分方程的纳米颗粒图像滤波方法 | 第18-26页 |
| ·基于偏微分方程的图像滤波方法 | 第18-22页 |
| ·基于偏微分方程的图像滤波方法的基本思想 | 第18-19页 |
| ·热传导模型 | 第19-20页 |
| ·PM模型 | 第20页 |
| ·平均曲率流模型 | 第20-21页 |
| ·选择退化扩散模型 | 第21-22页 |
| ·基于偏微分方程的纳米颗粒图像滤波 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 基于偏微分方程的纳米颗粒分割方法 | 第26-42页 |
| ·基于水平集的图像分割方法 | 第26-37页 |
| ·基于水平集的图像分割的基本思想 | 第26-29页 |
| ·基于距离正则化的水平集模型—DRLSE模型 | 第29-32页 |
| ·基于区域特征的水平集模型—CV模型 | 第32-34页 |
| ·基于区域扩展的水平集模型—RSF模型 | 第34-37页 |
| ·基于偏微分方程的纳米颗粒分割 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 纳米颗粒参数测量方法 | 第42-60页 |
| ·纳米颗粒参数测量方法流程 | 第42-43页 |
| ·纳米颗粒边缘拟合 | 第43-48页 |
| ·像素尺寸标定 | 第48-50页 |
| ·参数测量 | 第50-59页 |
| ·颗粒大小参数测量 | 第50-55页 |
| ·颗粒形状参数测量 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 颗粒参数测量结果分析 | 第60-74页 |
| ·纳米颗粒参数测量结果分析 | 第60-68页 |
| ·纳米颗粒均匀性评价 | 第68-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| ·总结 | 第74页 |
| ·展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
