低电压下数字电路概率特性分析及应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 本文所用到的图和表 | 第10-12页 |
| 本文缩略词说明 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·研究背景及现状 | 第13-15页 |
| ·课题来源和课题意义 | 第15-16页 |
| ·本文主要内容与贡献 | 第16页 |
| ·本文组织结构 | 第16-18页 |
| 第二章 概率 CMOS 逻辑电路基本理论 | 第18-27页 |
| ·电路功耗 | 第18-19页 |
| ·概率开关的概率模型 | 第19-23页 |
| ·数字开关 | 第19-20页 |
| ·概率开关 | 第20-23页 |
| ·基本逻辑门概率模型 | 第23-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 概率模型推导及测试 | 第27-37页 |
| ·状态转移法 | 第27-31页 |
| ·硬件平台测试 | 第31-33页 |
| ·结果分析 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 电路错误容忍相关技术 | 第37-46页 |
| ·电路错误容忍技术 | 第37页 |
| ·TMR 算法 | 第37-38页 |
| ·RPR 算法 | 第38-40页 |
| ·RRNS 技术 | 第40-45页 |
| ·有符号数的映射 | 第41-42页 |
| ·RNS 与 BNS 之间的转换 | 第42-43页 |
| ·RNS 中的符号检测 | 第43-44页 |
| ·RNS 中的数值缩放 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 面向概率电路的容错计算系统结构设计 | 第46-70页 |
| ·设计思路 | 第46-48页 |
| ·RPR-TMR 结构设计 | 第48-49页 |
| ·RPR-RRNS 结构设计 | 第49-63页 |
| ·有符号数 RRNS 纠错算法 | 第49-54页 |
| ·RPR-RRNS 结构实现 | 第54-63页 |
| ·性能分析 | 第63-69页 |
| ·功耗分析 | 第63-67页 |
| ·信噪比分析 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 攻硕期间参与项目及研究成果 | 第76-77页 |
