| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·论文的背景和意义 | 第9页 |
| ·图像声纳技术发展现状 | 第9-11页 |
| ·Flash 存储技术发展现状 | 第11-13页 |
| ·论文内容安排 | 第13-15页 |
| 第2章 数据采集存储系统硬件设计 | 第15-33页 |
| ·概述 | 第15-16页 |
| ·系统结构组成 | 第15-16页 |
| ·系统需求分析 | 第16页 |
| ·NAND Flash 存储器 | 第16-24页 |
| ·NAND Flash 存储结构和 I/O 接口 | 第16-19页 |
| ·NAND Flash 的基本操作 | 第19-24页 |
| ·A/D 模数转换器 | 第24-27页 |
| ·A/D 芯片的选取 | 第24页 |
| ·MAX1320 引脚功能 | 第24-25页 |
| ·MAX1320 的数据读取操作 | 第25-27页 |
| ·FPGA 可编程逻辑器件 | 第27-30页 |
| ·FPGA 介绍 | 第27-28页 |
| ·EP2C8Q208 芯片特点及电路设计 | 第28-30页 |
| ·电源电路设计 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 数据采集存储系统逻辑设计 | 第33-60页 |
| ·概述 | 第33-34页 |
| ·Verilog HDL 语言介绍 | 第33页 |
| ·系统功能模块划分和工作过程 | 第33-34页 |
| ·A/D 模数转换模块 | 第34-36页 |
| ·乒乓缓冲模块 | 第36-37页 |
| ·NAND Flash 存储单元控制模块 | 第37-55页 |
| ·NAND Flash 坏块管理 | 第37-46页 |
| ·磨损均衡和垃圾回收 | 第46-49页 |
| ·掉电保护和格式化 | 第49-51页 |
| ·数据存储和读取工作流程 | 第51-53页 |
| ·ECC 校验 | 第53-55页 |
| ·LVDS 数据传输 | 第55-57页 |
| ·I~2C 总线通信设计 | 第57-58页 |
| ·I~2C 总线通信工作流程 | 第57页 |
| ·I~2C 总线控制命令和 Nios II 程序命令 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第4章 数据采集存储系统测试 | 第60-70页 |
| ·测试环境介绍 | 第60页 |
| ·A/D 模数转换单元的测试 | 第60-62页 |
| ·NAND Flash 存储单元的测试 | 第62-68页 |
| ·初始坏块检测的测试 | 第62-63页 |
| ·地址映射测试 | 第63-64页 |
| ·坏块替换测试 | 第64-65页 |
| ·掉电保护测试 | 第65-66页 |
| ·ECC 校验测试 | 第66-67页 |
| ·数据准确性测试 | 第67-68页 |
| ·数据上传测试 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附录 | 第75页 |