超声相控阵成像检测技术的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·研究的背景与意义 | 第13-14页 |
| ·超声成像检测技术的介绍 | 第14-17页 |
| ·相控阵超声成像检测的发展趋势 | 第17-18页 |
| ·本文的内容安排 | 第18-20页 |
| 第二章 超声相控阵成像检测技术基本理论 | 第20-28页 |
| ·声场辐射模型的建立 | 第20-22页 |
| ·波动方程 | 第20-21页 |
| ·换能器的声场辐射 | 第21-22页 |
| ·超声相控阵成像检测技术原理 | 第22-25页 |
| ·相控阵超声的发射与接收 | 第22-23页 |
| ·延迟时间的计算 | 第23-25页 |
| ·超声相控阵成像检测的特性 | 第25-27页 |
| ·空间分辨率问题 | 第25-26页 |
| ·伪像问题 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 相控阵聚焦特性对成像分辨率的影响 | 第28-47页 |
| ·超声相控阵声束的聚焦特性 | 第28页 |
| ·聚焦控制精度分析 | 第28-35页 |
| ·聚焦声束焦点间距的控制 | 第29-32页 |
| ·聚焦声束的偏转精度 | 第32-35页 |
| ·时间延迟精度对成像对比度的影响 | 第35页 |
| ·焦点几何特征对分辨率的影响 | 第35-38页 |
| ·焦区深度对焦点连续性的影响 | 第36-37页 |
| ·焦点直径对横向分辨率的影响 | 第37-38页 |
| ·超声相控阵的声场仿真 | 第38-46页 |
| ·相控阵声场模型的建立 | 第38-39页 |
| ·基于单个焦点的声场仿真 | 第39-43页 |
| ·动态聚焦的声场仿真 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 超声相控阵缺陷成像仿真 | 第47-57页 |
| ·相控阵超声成像仿真模型 | 第47-48页 |
| ·基于单焦点的缺陷仿真 | 第48-50页 |
| ·基于动态聚焦下的缺陷成像 | 第50-52页 |
| ·合成孔径技术与相控阵技术的结合应用 | 第52-55页 |
| ·子阵列合成技术的波束仿真 | 第52-53页 |
| ·子阵列阵元数目的选取 | 第53-54页 |
| ·动态聚焦技术与子阵列合成技术的比较 | 第54-55页 |
| ·扫描图像的加权处理 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 相控阵的仿真实验系统 | 第57-65页 |
| ·软件仿真系统的设计与实现 | 第57-58页 |
| ·仿真系统的探头设计 | 第58页 |
| ·结果与分析 | 第58-64页 |
| ·单缺陷的仿真实验 | 第58-61页 |
| ·多缺陷的仿真实验 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·总结 | 第65-66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第71页 |
