高压开关机械特性测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第9-11页 |
| ·高压开关的发展趋势 | 第11-12页 |
| ·高压开关的用途和基本结构 | 第12-13页 |
| ·高压开关机械特性测试系统的发展与现状 | 第13页 |
| ·本课题所要研究的工作 | 第13-15页 |
| 第二章 高压开关特性测试设备设计原理 | 第15-28页 |
| ·高压开关的概念 | 第15-17页 |
| ·高压开关的结构 | 第15-16页 |
| ·高压开关的用途 | 第16页 |
| ·高压开关的基本运行理论 | 第16-17页 |
| ·高压开关机械特性测试内容 | 第17-19页 |
| ·高压开关机械特性测试设备 | 第19-21页 |
| ·高压开关机械特性测试设备的基本要求 | 第19-20页 |
| ·高压开关机械特性测试设备工作原理 | 第20-21页 |
| ·高压开关机械特性测试仪的特点 | 第21页 |
| ·测量各项指标的方案论证 | 第21-27页 |
| ·高压开关机械操作性能测试 | 第21-23页 |
| ·测量开关开断时间的方案 | 第23-25页 |
| ·测量高压开关触头位移参量的方法 | 第25-27页 |
| ·本章小节 | 第27-28页 |
| 第三章 高压开关特性测试设备的硬件设计 | 第28-42页 |
| 3.l 测试设备的各个部分功能设计 | 第28页 |
| ·测试设备设计所需主要器件及特点 | 第28-30页 |
| ·微控制器以及逻辑电路的选择 | 第28-29页 |
| ·传感器的选择 | 第29页 |
| ·光耦的选择 | 第29-30页 |
| ·测试系统模块总体硬件设计 | 第30-31页 |
| ·核心处理单元 | 第31页 |
| ·模拟输入通道 | 第31-34页 |
| ·电流信号的采集 | 第31-32页 |
| ·触头位移信号的采集 | 第32-34页 |
| ·开关量输入输出通道 | 第34-36页 |
| ·串口通信接口电路 | 第36-37页 |
| ·触头刚分/刚合时刻确定 | 第37-38页 |
| ·防雷电路的设计 | 第38-41页 |
| ·本章小节 | 第41-42页 |
| 第四章 高压开关特性测试设备软件设计 | 第42-50页 |
| ·软件程序语言的选择 | 第42页 |
| ·开关测试设备总体软件设计 | 第42-44页 |
| ·开关量测试系统软件设计 | 第44-45页 |
| ·模拟量输入输出软件设计 | 第45-48页 |
| ·软件位移计数法 | 第45-47页 |
| ·位移测量模块的软件设计 | 第47-48页 |
| ·测试仪通讯部分软件的设计 | 第48-49页 |
| ·本章小节 | 第49-50页 |
| 第五章 测试设备的实验操作结果 | 第50-55页 |
| ·测试波形分析 | 第50-53页 |
| ·实验结论 | 第53-55页 |
| 第六章 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 在学研究成果 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
