单晶铜制备键合丝的性能研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| ·课题背景及意义 | 第10-12页 |
| ·铜键合丝的优势及发展现状 | 第12-19页 |
| ·引线键合概述 | 第12-13页 |
| ·键合线概述 | 第13-14页 |
| ·铜键合丝的特性及优势 | 第14-17页 |
| ·铜键合丝的发展现状 | 第17页 |
| ·铜键合丝存在的困难及进展 | 第17-19页 |
| ·真空连铸工艺制备单晶铜键合丝的优势及可行性 | 第19-20页 |
| ·本课题研究的内容及目的 | 第20-21页 |
| 第2章 超微细铜材成型过程中断线分析及影响因素 | 第21-36页 |
| ·引言 | 第21页 |
| ·球焊键合丝的性能要求及线材的可拉性评判标准 | 第21-22页 |
| ·铜键合丝的性能要求 | 第21页 |
| ·铜杆的可拉性评价指标 | 第21-22页 |
| ·线材拉拔工艺理论 | 第22-25页 |
| ·定义 | 第22-23页 |
| ·线材拉拔应力与变形 | 第23-25页 |
| ·超微细铜线拉制过程的断线分析 | 第25-34页 |
| ·试验方法 | 第25页 |
| ·试验结果及分析 | 第25-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第3章 单晶铜杆制备工艺控制及性能分析 | 第36-53页 |
| ·高品质单晶铜杆的制备工艺控制 | 第36-45页 |
| ·真空熔炼对铜液的净化分析 | 第36-41页 |
| ·单晶铜制备过程中的质量控制 | 第41-45页 |
| ·单晶铜性能分析 | 第45-51页 |
| ·铜杆成分分析 | 第45-46页 |
| ·铜杆组织演化质量分析 | 第46-48页 |
| ·力学性能分析 | 第48-50页 |
| ·电学性能分析 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 冷拉拔塑性变形对单晶铜线材性能的影响 | 第53-74页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·试样制备 | 第53-54页 |
| ·冷拉拔塑性变形对单晶铜线材力学性能的影响 | 第54-60页 |
| ·静拉伸试验 | 第54-57页 |
| ·断口形貌观察 | 第57-59页 |
| ·显微硬度试验 | 第59-60页 |
| ·冷拉拔塑性变形对单晶铜线材组织、取向的影响 | 第60-66页 |
| ·微观组织的演化分析 | 第60-64页 |
| ·冷塑性变形对单晶铜线材取向分析 | 第64-66页 |
| ·冷塑性变形对单晶铜线材电学性能的影响 | 第66-68页 |
| ·电阻率的测量 | 第66-67页 |
| ·试验结果分析 | 第67-68页 |
| ·中间退火工艺对单晶铜线材性能的影响 | 第68-72页 |
| ·退火工艺对铜线材力学性能的影响 | 第68-70页 |
| ·退火工艺对线材电学性能的影响 | 第70-71页 |
| ·中间退火的工艺参数的确定与组织观察 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第5章 单晶铜键合丝的键合性能研究 | 第74-85页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·内引线键合质量的检测及键合工艺要求 | 第74-76页 |
| ·球键合工艺试验 | 第76-81页 |
| ·试验方法及试样制备 | 第76页 |
| ·键合试验试验条件 | 第76-78页 |
| ·试验结果分析 | 第78-81页 |
| ·单晶铜键合点可靠性试验 | 第81-83页 |
| ·可靠性试验条件 | 第81-82页 |
| ·可靠性试验结果 | 第82页 |
| ·温度循环试验的界面特征 | 第82-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 总结与展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第92页 |
