中低阻样品噪声测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·电子元器件低频噪声测量意义 | 第8-9页 |
| ·中低阻器件噪声测量现状与问题 | 第9页 |
| ·论文内容 | 第9-10页 |
| 第二章 电子元器件低频噪声测试方法 | 第10-20页 |
| ·电子元器件低频噪声检测技术基础 | 第10-14页 |
| ·电子元器件低频噪声分类与表征参数 | 第10-13页 |
| ·电子元器件低频噪声检测基本原理 | 第13-14页 |
| ·电子元器件低频噪声测试方法 | 第14-19页 |
| ·直流偏置测量技术 | 第14-15页 |
| ·交流偏置测量技术 | 第15-17页 |
| ·交流加直流偏置测量技术 | 第17-19页 |
| ·电子元器件低频噪声测量系统实现原则 | 第19-20页 |
| 第三章 中低阻器件噪声测量方案设计与系统实现 | 第20-42页 |
| ·中低阻器件噪声测量特点 | 第20-21页 |
| ·阻抗特性 | 第20页 |
| ·噪声幅度 | 第20-21页 |
| ·中低阻器件噪声测量方案设计 | 第21-31页 |
| ·影响因素考虑 | 第21-26页 |
| ·测量系统方案设计 | 第26-31页 |
| ·中低阻器件噪声测试系统实现 | 第31-39页 |
| ·放大模块 | 第31-33页 |
| ·数据采集模块 | 第33-35页 |
| ·数据处理模块 | 第35-39页 |
| ·系统应用规范 | 第39-42页 |
| ·放大系统应用规范 | 第39-40页 |
| ·数据采集处理规范 | 第40-42页 |
| 第四章 测量系统验证与应用 | 第42-56页 |
| ·测量系统验证 | 第42-47页 |
| ·系统阻抗特性验证 | 第42-43页 |
| ·系统背景噪声验证 | 第43-44页 |
| ·系统测量精度验证 | 第44-45页 |
| ·外部噪声影响验证 | 第45-46页 |
| ·不同测试系统结果对比验证 | 第46-47页 |
| ·实测样品验证 | 第47-56页 |
| ·偏置电路结构及参数 | 第47-50页 |
| ·金属互连样品噪声测量实验 | 第50-53页 |
| ·厚膜电阻样品噪声测量实验 | 第53-56页 |
| 第五章 结束语 | 第56-58页 |
| ·论文成果 | 第56-57页 |
| ·展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 在学期间研究成果 | 第64页 |
