数字CMOS工艺下10位580kSps逐次逼近型模数转换器设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-12页 |
| 1 引言 | 第12-14页 |
| ·课题意义 | 第12-13页 |
| ·文章结构介绍 | 第13-14页 |
| 2 ADC 背景知识 | 第14-22页 |
| ·ADC 的主要类型 | 第14-18页 |
| ·闪速型（FLASH ADC） | 第14页 |
| ·逐次逼近型（SAR ADC） | 第14-15页 |
| ·过采样型（Sigma Delta ADC） | 第15-16页 |
| ·流水型（Pipeline ADC） | 第16-17页 |
| ·优缺点分析 | 第17-18页 |
| ·ADC 的性能指标 | 第18-20页 |
| ·静态特性指标 | 第18-20页 |
| ·动态特性指标 | 第20页 |
| ·结束语 | 第20-22页 |
| 3 SAR ADC 分析 | 第22-37页 |
| ·系统结构与工作原理 | 第22-24页 |
| ·采样模式 | 第23页 |
| ·保持模式 | 第23-24页 |
| ·影响精度的因素分析 | 第24-36页 |
| ·开关 | 第24-28页 |
| ·电荷注入 | 第25-27页 |
| ·寄生电容 | 第27-28页 |
| ·电容匹配 | 第28-34页 |
| ·电容失配对ADC 的影响 | 第28-29页 |
| ·理论分析 | 第29-30页 |
| ·理论推导 | 第30-34页 |
| ·比较器的失调 | 第34-36页 |
| ·结束语 | 第36-37页 |
| 4 电路设计 | 第37-59页 |
| ·电容网络 | 第37-45页 |
| ·电容结构 | 第37-38页 |
| ·电容大小 | 第38-44页 |
| ·电容失配 | 第38-43页 |
| ·输入噪声 | 第43-44页 |
| ·电容版图 | 第44-45页 |
| ·比较器 | 第45-53页 |
| ·开环增益级 | 第45-50页 |
| ·锁存单元 | 第50-52页 |
| ·伪RS 单元 | 第52-53页 |
| ·模拟开关 | 第53-55页 |
| ·电容网络中的开关 | 第53-55页 |
| ·比较器中的开关 | 第55页 |
| ·控制逻辑 | 第55-57页 |
| ·接口框图 | 第55-56页 |
| ·时序定义 | 第56-57页 |
| ·电路实现 | 第57页 |
| ·结束语 | 第57-59页 |
| 5 版图与系统仿真 | 第59-66页 |
| ·版图设计 | 第59-61页 |
| ·系统仿真 | 第61-65页 |
| ·结束语 | 第65-66页 |
| 6 结论与展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第70页 |
