| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| ·惯性约束核聚变驱动点火装置(NIF) | 第9-13页 |
| ·惯性约束核聚变 | 第9-10页 |
| ·惯性约束核聚变激光驱动器计划 | 第10-11页 |
| ·国家点火装置(NIF) | 第11-13页 |
| ·惯性约束聚变ICF中的光学损伤检测 | 第13-18页 |
| ·NIF光学元件损伤检测系统 | 第14-18页 |
| ·本文主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第二章 暗场检测技术 | 第20-37页 |
| ·光学元件损伤在线检测的背景 | 第20页 |
| ·光学元件损伤检测的光学信息处理方法 | 第20-24页 |
| ·暗场成像技术 | 第24-25页 |
| ·光学元件损伤的在线检测光路 | 第25-27页 |
| ·SG-Ⅲ装置中损伤检测系统 | 第25-26页 |
| ·实验室条件下模拟损伤检测实验 | 第26-27页 |
| ·暗场成像技术检测模拟实验的结果 | 第27-31页 |
| ·模拟光路的光学元件损伤检测(无滤波器F) | 第27-28页 |
| ·显微镜对光学元件损伤的检测 | 第28-29页 |
| ·模拟光路的光学元件损伤暗场检测(有滤波器F) | 第29-31页 |
| ·暗场成像光学元件损伤检测中滤波器的设计 | 第31-36页 |
| ·不同尺度滤波器的暗场成像(调焦在前表面) | 第31-33页 |
| ·不同尺度滤波器的暗场成像(调焦在后表面) | 第33-34页 |
| ·暗场成像中滤波器的确定 | 第34-36页 |
| ·暗场检测结果分析与小结 | 第36-37页 |
| 第三章 光学元件损伤暗场成像自动检测算法研究 | 第37-49页 |
| ·光学元件损伤的自动识别算法 | 第37-41页 |
| ·光学元件损伤位置确定的模式聚类算法 | 第37-39页 |
| ·光学元件损伤位置自动识别算法流程 | 第39-40页 |
| ·光学元件损伤位置自动识别算法证明 | 第40-41页 |
| ·光学元件损伤的自动识别算法的改进方法 | 第41-43页 |
| ·改进算法原理 | 第41-43页 |
| ·光学元件损伤自动识别算法的验证 | 第43-48页 |
| ·实验光路 | 第43-44页 |
| ·损伤图形采集与初始处理 | 第44页 |
| ·自动识别算法的实验研究 | 第44-46页 |
| ·改进算法的实验研究 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 方型锯齿形空间滤波器和软边空间滤波器的消高频衍射 | 第49-62页 |
| ·消高频衍射光阑在损伤检测中的应用背景 | 第49-50页 |
| ·方型孔径激光系统衍射分析 | 第50-52页 |
| ·利用锯齿光阑消高频衍射 | 第52-56页 |
| ·锯齿光阑消高频衍射的原理 | 第52-54页 |
| ·锯齿光阑消高频衍射的模拟研究 | 第54-56页 |
| ·锯齿光阑消高频衍射的结论 | 第56页 |
| ·利用软边光阑消高频衍射 | 第56-59页 |
| ·光波的自由空间传播的衍射光场 | 第56-57页 |
| ·基于空间滤波像传递的成像衍射 | 第57-58页 |
| ·软边光阑的消衍射计算研究 | 第58-59页 |
| ·软边光阑的消衍射的结论 | 第59页 |
| ·光束质量评价 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 作者在读期间科研成果简介 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |