| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 表格索引 | 第11-12页 |
| 第1章 引言 | 第12-20页 |
| ·微型化的挑战 | 第12-14页 |
| ·电渗与流场可视化测量技术 | 第14-19页 |
| ·电渗 | 第14页 |
| ·流场可视化测量技术 | 第14-19页 |
| ·本文的研究动机和目标 | 第19页 |
| ·本文的组织 | 第19-20页 |
| 第2章 微管道内电渗的传递特性 | 第20-33页 |
| ·双电层理论与其数值分析 | 第20-24页 |
| ·双电层理论 | 第20-22页 |
| ·电渗的控制方程 | 第22-24页 |
| ·直管道与十字交叉管道中的电渗流 | 第24-29页 |
| ·实验设置 | 第24-26页 |
| ·直管道中的电渗流 | 第26页 |
| ·十字交叉管道中的电渗流 | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-33页 |
| 第3章 Micro-PIV光学系统与伪Monte Carlo模拟 | 第33-50页 |
| ·Micro-PIV光学系统 | 第33-46页 |
| ·Micro-PIV的无限远光学系统 | 第33页 |
| ·几何焦平面上的Fraunhofer衍射 | 第33-38页 |
| ·几何焦平面附近的衍射场 | 第38-46页 |
| ·CCD采样模型与离散化误差 | 第46-48页 |
| ·示踪粒子的伪Monte Carlo模拟 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 单像素整体互相关算法 | 第50-71页 |
| ·互相关分析原理 | 第50-53页 |
| ·数学描述 | 第50-52页 |
| ·互相关分析的统计特性 | 第52-53页 |
| ·单像素整体互相关算法 | 第53-58页 |
| ·算法原理 | 第53-55页 |
| ·驻点流场的伪Monte Carlo模拟 | 第55-57页 |
| ·用SPEC算法进行流场重建 | 第57-58页 |
| ·SPEC算法的精度分析 | 第58-70页 |
| ·互相关峰的亚象素拟合 | 第58-68页 |
| ·速度梯度对算法精度的影响 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第5章 Bi-SPEC算法 | 第71-78页 |
| ·Bi-SPEC算法原理 | 第71-74页 |
| ·单像素分辨率算法的边界选择性 | 第74页 |
| ·Bi-SPEC算法的精度分析 | 第74-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第6章 结束语 | 第78-80页 |
| ·论文的主要成果 | 第78页 |
| ·深化本论文结论的一些建议 | 第78-79页 |
| ·补充说明 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 致谢 | 第83页 |