| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一节 引言 | 第9-13页 |
| §1.1 太阳耀斑对电离层的影响 | 第9-10页 |
| §1.2 太阳耀斑引起的电离层扰动的研究历史及现状 | 第10-11页 |
| §1.3 本文内容概要 | 第11-13页 |
| 第二节 太阳耀斑参数和SITEC参数的获取 | 第13-25页 |
| §2.1 太阳耀斑参数 | 第13-18页 |
| §2.1.1 太阳耀斑简介 | 第13-15页 |
| §2.1.1.1 太阳耀斑的光谱 | 第13-14页 |
| §2.1.1.2 太阳耀斑的分级 | 第14-15页 |
| §2.1.2 卫星提供的太阳耀斑参数 | 第15-16页 |
| §2.1.3 太阳耀斑辐射通量模型 | 第16-18页 |
| §2.2 太阳耀斑期间电子浓度总含量的获取 | 第18-24页 |
| §2.2.1 微分多普勒测量 | 第18-19页 |
| §2.2.2 法拉第旋转测量 | 第19-22页 |
| §2.2.3 GPS探测 | 第22-24页 |
| §2.3 小结 | 第24-25页 |
| 第三节 太阳耀斑参数与SITEC参数的相关统计分析 | 第25-46页 |
| §3.1 理论基础 | 第25-31页 |
| §3.2 太阳耀斑参数与SITEC的统计分析 | 第31-45页 |
| §3.2.1 太阳耀斑事件和GPS观测站的选取 | 第31-32页 |
| §3.2.2 太阳耀斑引起的低纬电离层SITEC参数统计 | 第32-42页 |
| §3.2.3 太阳耀斑引起的中纬电离层SITEC参数统计 | 第42-45页 |
| §3.3 小结 | 第45-46页 |
| 第四节 太阳耀斑期间电子浓度变化的模拟分析 | 第46-59页 |
| §4.1 理论模式的简介 | 第46页 |
| §4.2 模式计算结果 | 第46-48页 |
| §4.3 利用模式分析太阳耀斑参数对电子浓度增幅的影响 | 第48-53页 |
| §4.4 地方时对太阳耀斑引起SITEC强度的模式分析 | 第53-57页 |
| §4.5 小结 | 第57-59页 |
| 第五节 总结 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 附录:本文完成的学术论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
