| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| 1．1 引言 | 第7页 |
| 1．2 现代汽车对信息系统的要求 | 第7-8页 |
| 1．3 国内外常用汽车转速表速度表原理及其测试工具 | 第8-12页 |
| 第二章 测试仪总体功能和原理 | 第12-17页 |
| 2．1 脉宽调制（PWM）原理 | 第12-13页 |
| 2．2 程控集成电路转速表、速度表表头驱动原理 | 第13-14页 |
| 2．3 测试仪表的功能要求和整体模块 | 第14-17页 |
| 第三章 主从单片机及目标芯片原理 | 第17-25页 |
| 3．1 Z8系列单片机 | 第17-18页 |
| 3．2 Z86E04 CMOS 8位1K OPT微控制器 | 第18-21页 |
| 3．3 Z86E30 CMOS 8位OTP CCP微控制器 | 第21-25页 |
| 第四章 电源模块 | 第25-27页 |
| 第五章 显示模块 | 第27-34页 |
| 5．1 单片机系统常用显示装置 | 第27-30页 |
| 5．2 显示模块硬件原理 | 第30-32页 |
| 5．3 显示模块软件功能 | 第32-34页 |
| 第六章 键盘模块 | 第34-45页 |
| 6．1 键盘接口 | 第34-37页 |
| 6．2 测试仪键盘模块硬件原理 | 第37-40页 |
| 6．3 测试仪键盘模块编程原理 | 第40-45页 |
| 第七章 存储模块 | 第45-54页 |
| 7．1 串行EEPROM芯片M93C66 | 第45-52页 |
| 7．2 主从芯片对M93CX6的访问 | 第52-54页 |
| 第八章 编程模块 | 第54-68页 |
| 8．1 时序控制模拟开关IH5043 | 第54-56页 |
| 8．2 编程模块硬件结构 | 第56-58页 |
| 8．3 编程模块软件实现原理 | 第58-68页 |
| 第九章 测试仪整体性能 | 第68-70页 |
| 结束语 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-72页 |
