| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-21页 |
| ·课题背景 | 第10页 |
| ·本课题研究的目的及意义 | 第10-11页 |
| ·本课题研究的目的 | 第10页 |
| ·本课题研究的意义 | 第10-11页 |
| ·印刷电路板缺陷检测的方法 | 第11-13页 |
| ·人工视觉检测 | 第11页 |
| ·自动光学检测 | 第11-12页 |
| ·电气检测 | 第12页 |
| ·X射线检测 | 第12-13页 |
| ·X射线检测印刷电路板设备国内外相关技术及发展现状 | 第13-19页 |
| ·本文主要研究内容 | 第19-21页 |
| 2 X 射线检测理论和印刷电路板 X 射线实时成像检测系统 | 第21-32页 |
| ·X射线检测理论 | 第21-23页 |
| ·X射线检测原理 | 第21-23页 |
| ·X射线检测特点 | 第23页 |
| ·印刷电路板X射线实时成像检测系统 | 第23-31页 |
| ·印刷电路板X射线实时成像检测系统的组成 | 第23-26页 |
| ·印刷电路板X射线实时成像检测系统的总体设计 | 第26-30页 |
| ·印刷电路板X射线实时成像检测系统的特点 | 第30-31页 |
| ·本章小节 | 第31-32页 |
| 3 X 射线检测印刷电路板图像的预处理技术 | 第32-42页 |
| ·X射线检测图像的特点 | 第32页 |
| ·X射线检测印刷电路板图像的分割研究 | 第32-35页 |
| ·灰度拉伸方法 | 第32-33页 |
| ·算法描述 | 第33-35页 |
| ·基于数学形态学的迭代阈值方法 | 第35-40页 |
| ·数学形态学 | 第35-37页 |
| ·阈值选取方法 | 第37-39页 |
| ·算法描述 | 第39-40页 |
| ·仿真实验 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 4 印刷电路板缺陷的自动提取和标记技术 | 第42-52页 |
| ·印刷电路板图像缺陷的特征分析 | 第42-43页 |
| ·基于Hough变换进行缺陷自动提取 | 第43-45页 |
| ·Hough变换圆检测的原理 | 第43-44页 |
| ·BGA焊点缺球的自动提取 | 第44-45页 |
| ·基于减影技术进行缺陷自动提取 | 第45-48页 |
| ·减影技术原理 | 第46页 |
| ·印刷电路板标准图像的模拟 | 第46-47页 |
| ·仿真实验 | 第47-48页 |
| ·缺陷图形标记 | 第48-51页 |
| ·求区域中心 | 第48-50页 |
| ·仿真实验 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 5 印刷电路板缺陷的识别技术 | 第52-64页 |
| ·模式识别 | 第52页 |
| ·印刷电路板的质量标准 | 第52-54页 |
| ·BGA焊点的质量标准 | 第53页 |
| ·印刷电路板走线的质量标准 | 第53-54页 |
| ·印刷电路板缺陷图像模式识别 | 第54-63页 |
| ·树分类法 | 第55-56页 |
| ·序贯概率比检定法 | 第56-59页 |
| ·印刷电路板缺陷短路和断路的识别 | 第59-62页 |
| ·印刷电路板BGA焊点缺球的识别 | 第62页 |
| ·仿真实验 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 6 结束语 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 攻读硕士学位期间撰写的论文及科研成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |