电子设备箱体屏蔽效能的预测研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-15页 |
| ·主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 电磁兼容性的原理及方法 | 第17-30页 |
| ·电磁兼容性预测的原理 | 第17-20页 |
| ·电磁兼容性预测的意义 | 第17页 |
| ·电磁兼容性预测的方法 | 第17-20页 |
| ·电磁屏蔽的理论 | 第20-24页 |
| ·屏蔽的原理 | 第20-21页 |
| ·电磁屏蔽的分类 | 第21页 |
| ·屏蔽效能的定义及计算方法 | 第21-24页 |
| ·屏蔽效能的预测方法 | 第24-29页 |
| ·时域有限差分法 | 第24-25页 |
| ·有限元法 | 第25-26页 |
| ·边界元法 | 第26-27页 |
| ·矩量法 | 第27-28页 |
| ·矩阵束法 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 矩阵束算法的原理及改进 | 第30-43页 |
| ·模型建立 | 第30-31页 |
| ·PRONY 法的原理 | 第31-33页 |
| ·矩阵束算法的原理 | 第33-35页 |
| ·算法的改进 | 第35-39页 |
| ·算法性能的比较 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 屏蔽箱体的电磁屏蔽预测 | 第43-56页 |
| ·电子设备箱体的屏蔽 | 第43-48页 |
| ·电子设备箱体的发展现状 | 第43-44页 |
| ·电子设备箱体屏蔽材料的选用 | 第44-48页 |
| ·电子设备箱体屏蔽效能的技术指标 | 第48页 |
| ·实际测量 | 第48-53页 |
| ·实验模型的建立 | 第48-50页 |
| ·测量仪器的选用 | 第50-52页 |
| ·实验测量及算法重构 | 第52-53页 |
| ·屏蔽效能的预测 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
