高功率半导体激光器及其阵列的导数检测
| 提要 | 第1-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-23页 |
| ·高功率半导体激光器及其阵列的发展和应用 | 第9-18页 |
| ·高功率半导体激光器 | 第9-11页 |
| ·阵列激光器的发展与应用 | 第11-18页 |
| ·半导体激光器的可靠性研究 | 第18-21页 |
| ·加速老化法 | 第19页 |
| ·噪声法 | 第19-20页 |
| ·电导数测试 | 第20-21页 |
| ·课题来源及本论文工作内容、创新点 | 第21-23页 |
| ·课题介绍 | 第21页 |
| ·论文主要内容 | 第21-22页 |
| ·创新点 | 第22-23页 |
| 第二章 高功率半导体激光器及其阵列导数测试 | 第23-37页 |
| ·半导体激光器的导数测试 | 第23-26页 |
| ·电导数测量原理 | 第23-25页 |
| ·电导数相关参数及提取 | 第25-26页 |
| ·高功率半导体激光器及其阵列的导数测试系统 | 第26-31页 |
| ·导数测试系统 | 第26-28页 |
| ·系统功能 | 第28-30页 |
| ·软件系统 | 第30-31页 |
| ·系统改进及结果对比 | 第31-36页 |
| ·基于CFormView 基类的程序的打印 | 第31-32页 |
| ·读取数据的降噪 | 第32-34页 |
| ·四线电阻法提高大电流测试精度 | 第34-35页 |
| ·系统整合 | 第35-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第三章 单管高功率激光器的可靠性分析 | 第37-53页 |
| ·各电导数参数值的物理意义 | 第37-39页 |
| ·阈值电流I_(th) | 第37页 |
| ·初始峰F | 第37-38页 |
| ·结特征参量m | 第38页 |
| ·结电压饱和深度h | 第38页 |
| ·等效串联电阻R_s | 第38-39页 |
| ·b 值 | 第39页 |
| ·单管测试结果及可靠性分析 | 第39-46页 |
| ·m 值与器件质量和可靠性的关系 | 第39-42页 |
| ·h 值与器件质量和可靠性的关系 | 第42-46页 |
| ·光导数参数Q 与光谱 | 第46-52页 |
| ·Q 参数值的定义及物理意义 | 第46-47页 |
| ·Q 值的测试结果与分析 | 第47-50页 |
| ·器件的Q 参数值与光谱 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第四章 高功率线阵列激光器的模拟计算 | 第53-68页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·计算模型 | 第53-55页 |
| ·计算条件和结果 | 第55-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第五章 阵列激光器的可靠性及其模拟测量 | 第68-82页 |
| ·引言 | 第68页 |
| ·单管并联模拟阵列测试 | 第68-73页 |
| ·单管并联模拟阵列测试系统 | 第68-69页 |
| ·单管模拟阵列的测试 | 第69-73页 |
| ·阵列半导体激光器的导数测试 | 第73-75页 |
| ·阵列半导体激光器的m 值 | 第73-74页 |
| ·阵列半导体激光器的h 值和Q 值 | 第74-75页 |
| ·阵列激光器的光谱与均匀性 | 第75-81页 |
| ·小结 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-93页 |
| 攻读博士期间发表的论文和参与的科研项目 | 第93-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
| 摘要 | 第95-97页 |
| Abstract | 第97-98页 |
