| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 研究意义 | 第11页 |
| 1.3 研究思路与方法 | 第11-13页 |
| 1.4 研究内容与框架 | 第13-15页 |
| 1.5 研究目标及创新点 | 第15-17页 |
| 2 文献综述 | 第17-24页 |
| 2.1 税务风险的界定 | 第17-18页 |
| 2.2 税务风险测度 | 第18-20页 |
| 2.3 指标体系构建 | 第20-21页 |
| 2.4 税务风险影响因素 | 第21-22页 |
| 2.5 国内外相关文献研究述评 | 第22-24页 |
| 3 构建企业税务风险测度指标体系的理论研究 | 第24-30页 |
| 3.1 企业税务风险测度指标选取的基本原则 | 第24页 |
| 3.2 企业税务风险测度指标的分类研究 | 第24-26页 |
| 3.3 企业税务风险测度指标的应用方法 | 第26-30页 |
| 3.3.1 单项测度指标的风险评定方法 | 第27-28页 |
| 3.3.2 指标筛选及权重设置方法 | 第28-29页 |
| 3.3.3 综合风险指数合成方法 | 第29-30页 |
| 4 电子设备制造企业税务风险指标体系构建 | 第30-35页 |
| 4.1 电子设备制造企业税务风险测度研究的行业背景 | 第30页 |
| 4.2 电子设备制造企业的潜在税务风险 | 第30-31页 |
| 4.3 电子设备制造企业税务风险测度指标的选择 | 第31-33页 |
| 4.4 构建适合电子设备制造企业的税务风险测度指标体系 | 第33-35页 |
| 5 电子设备制造企业税务风险测度结果分析 | 第35-43页 |
| 5.1 数据来源及样本选择 | 第35页 |
| 5.2 分类指标税务风险测度结果 | 第35-41页 |
| 5.3 综合税务风险指数测度结果 | 第41页 |
| 5.4 高税务风险企业的综合风险分解 | 第41-43页 |
| 6 电子设备制造企业税务风险影响因素分析 | 第43-49页 |
| 6.1 理论分析与研究假设 | 第43-44页 |
| 6.2 变量定义与模型构建 | 第44-45页 |
| 6.3 描述性统计 | 第45页 |
| 6.4 相关性分析 | 第45-46页 |
| 6.5 回归分析 | 第46-47页 |
| 6.6 稳健性检验 | 第47-48页 |
| 6.7 小结 | 第48-49页 |
| 7 研究结论与对策建议 | 第49-53页 |
| 7.1 研究结论 | 第49页 |
| 7.2 对策建议 | 第49-51页 |
| 7.3 本次研究的局限性及未来研究方向 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 附录 | 第58页 |