| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 应用方向 | 第11-12页 |
| 1.3 钛酸铜钙研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3.1 固相烧结法研究 | 第12页 |
| 1.3.2 溶胶-凝胶法研究 | 第12-14页 |
| 1.4 CCTO性能表征及影响因素 | 第14-16页 |
| 1.4.1 性能表征 | 第14-15页 |
| 1.4.2 介电性能影响因素 | 第15-16页 |
| 1.5 IBLC模型 | 第16-17页 |
| 1.6 混合元素对陶瓷介电性能的影响及研究最新进展 | 第17-19页 |
| 1.6.1 混合元素对介电性能的影响 | 第17-18页 |
| 1.6.2 混合元素研究最新进展 | 第18-19页 |
| 1.7 课题创新点 | 第19-20页 |
| 第2章 Fe混合对陶瓷介电性能的影响 | 第20-50页 |
| 2.1 实验准备 | 第20-29页 |
| 2.1.1 实验药品 | 第20页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第20页 |
| 2.1.3 实验方案和流程 | 第20-22页 |
| 2.1.4 各原料的质量 | 第22-23页 |
| 2.1.5 陶瓷粉末尺寸 | 第23-27页 |
| 2.1.6 陶瓷片的尺寸 | 第27页 |
| 2.1.7 陶瓷片涂银浆 | 第27-28页 |
| 2.1.8 数据采集方法 | 第28-29页 |
| 2.2 制备Fe混合的CCTO陶瓷 | 第29-37页 |
| 2.2.1 纯相CCTO的制备及介电性质 | 第29-30页 |
| 2.2.2 X-射线衍射分析(XRD) | 第30-31页 |
| 2.2.3 晶格常数 | 第31页 |
| 2.2.4 介电性能 | 第31-33页 |
| 2.2.5 X-射线衍射分析(XRD) | 第33-34页 |
| 2.2.6 扫描电子显微镜表征(SEM) | 第34-36页 |
| 2.2.7 介电性能 | 第36-37页 |
| 2.3 烧结时间对Fe混合CCTO陶瓷性能的影响 | 第37-48页 |
| 2.3.1 X-射线衍射分析(XRD) | 第37-38页 |
| 2.3.2 晶格常数 | 第38-39页 |
| 2.3.3 能谱图 | 第39-40页 |
| 2.3.4 扫描电子显微镜表征(SEM) | 第40-42页 |
| 2.3.5 常温条件下介电常数和介电损耗 | 第42-44页 |
| 2.3.6 拉曼光谱图 | 第44-46页 |
| 2.3.7 变温条件下介电常数和介电损耗 | 第46-48页 |
| 2.4 Fe元素混合CCTO陶瓷小结 | 第48-50页 |
| 第3章 Mg元素混合对CCTO介电性能的影响 | 第50-64页 |
| 3.1 实验准备 | 第50-54页 |
| 3.1.1 实验流程 | 第50页 |
| 3.1.2 各原料质量 | 第50页 |
| 3.1.3 陶瓷粉末尺寸 | 第50-52页 |
| 3.1.4 陶瓷片的尺寸 | 第52-53页 |
| 3.1.5 陶瓷片涂银浆 | 第53页 |
| 3.1.6 数据采集方法 | 第53-54页 |
| 3.2 Mg混合CCTO陶瓷制备及性能 | 第54-63页 |
| 3.2.1 X-射线衍射分析(XRD) | 第54页 |
| 3.2.2 晶格常数 | 第54-55页 |
| 3.2.3 能谱图 | 第55-56页 |
| 3.2.4 扫描电子显微镜表征(SEM) | 第56-57页 |
| 3.2.5 常温下介电常数和介电损耗 | 第57-59页 |
| 3.2.6 拉曼光谱图 | 第59-60页 |
| 3.2.7 变温条件下介电常数和介电损耗 | 第60-63页 |
| 3.3 Mg元素混合CCTO陶瓷小结 | 第63-64页 |
| 第4章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 4.1 结论 | 第64-65页 |
| 4.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-74页 |
| 致谢 | 第74页 |