基于MBD的制造特征识别研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第9-12页 |
| 1.2 特征识别技术概况 | 第12-17页 |
| 1.2.1 特征识别技术发展现状 | 第12-16页 |
| 1.2.2 MBD技术发展现状 | 第16-17页 |
| 1.3 本文研究主要内容 | 第17-19页 |
| 2 UGNX二次开发技术和特征库创建 | 第19-32页 |
| 2.1 UGNX软件介绍 | 第19页 |
| 2.2 二次开发技术介绍 | 第19-31页 |
| 2.2.1 UG/Open相关模块 | 第20页 |
| 2.2.2 VS环境下开发UG应用程序 | 第20-21页 |
| 2.2.3 应用程序的菜单制作和界面设计 | 第21-24页 |
| 2.2.4 预定义特征库的创建 | 第24-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 3 MBD模型的信息表达和组织 | 第32-43页 |
| 3.1 标准MBD模型的建立 | 第32-35页 |
| 3.1.1 模型的创建 | 第35页 |
| 3.1.2 模型属性操作函数 | 第35页 |
| 3.2 MBD模型信息表达 | 第35-38页 |
| 3.2.1 非几何信息表达-属性信息 | 第35-36页 |
| 3.2.2 非几何信息表达-标注信息 | 第36-38页 |
| 3.3 MBD模型信息提取 | 第38-40页 |
| 3.3.1 尺寸信息提取 | 第38-39页 |
| 3.3.2 公差信息提取 | 第39-40页 |
| 3.4 制造信息与特征的关联 | 第40-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-43页 |
| 4 基于AAG扩展和痕迹的识别方法 | 第43-64页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 基本概念及识别方法概述 | 第43-48页 |
| 4.2.1 基本概念 | 第43-47页 |
| 4.2.2 识别方法概述 | 第47-48页 |
| 4.3 AAG扩展及特征痕迹 | 第48-51页 |
| 4.3.1 AAG扩展 | 第48-50页 |
| 4.3.2 特征痕迹 | 第50-51页 |
| 4.4 相交特征识别 | 第51-63页 |
| 4.4.1 获取特征痕迹 | 第51-53页 |
| 4.4.2 虚链接和辅助构成面 | 第53-55页 |
| 4.4.3 相交判定 | 第55-56页 |
| 4.4.4 特征的归并 | 第56-57页 |
| 4.4.5 特征的分离 | 第57-59页 |
| 4.4.6 特征匹配 | 第59-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 5 相交特征识别算法验证 | 第64-80页 |
| 5.1 算法验证工具 | 第64-66页 |
| 5.1.1 开发工具介绍 | 第64页 |
| 5.1.2 开发程序功能 | 第64-66页 |
| 5.2 算法实现程序介绍 | 第66-74页 |
| 5.2.1 特征加工面邻接图生成 | 第68-70页 |
| 5.2.2 相交判定 | 第70页 |
| 5.2.3 虚链接和辅助构成面 | 第70-71页 |
| 5.2.4 特征分离 | 第71-73页 |
| 5.2.5 子图匹配 | 第73-74页 |
| 5.3 识别算法应用实例 | 第74-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 6 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 总结 | 第80-81页 |
| 6.2 展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-88页 |
| 附录 硕士研究生学习阶段发表论文 | 第88页 |
