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半导体辐射探测器前端读出专用集成电路研究

摘要第4-6页
Abstract第6-9页
1 绪论第13-31页
    1.1 论文研究背景第13-21页
        1.1.1 辐射检测技术的应用领域第13-16页
        1.1.2 辐射探测器第16-18页
        1.1.3 前端读出系统第18-21页
    1.2 国内外研究现状第21-25页
    1.3 论文研究工作和主要创新点第25-27页
        1.3.1 选题意义第25页
        1.3.2 研究内容第25-27页
        1.3.3 主要创新点概要第27页
    1.4 论文结构第27-31页
2 前端读出技术概述第31-63页
    2.1 前端读出系统概述第31-34页
    2.2 半导体辐射探测器第34-37页
    2.3 前置放大模块第37-44页
        2.3.1 电压灵敏前置放大器第37-40页
        2.3.2 电荷灵敏前置放大器第40-43页
        2.3.3 电流灵敏前置放大器第43-44页
    2.4 成形放大模块第44-48页
    2.5 采样保持模块第48-52页
        2.5.1 开关电容电路第48-50页
        2.5.2 模拟展宽器第50-52页
    2.6 时间甄别和转换模块第52-60页
        2.6.1 甄别器第52-55页
        2.6.2 逻辑展宽器第55-57页
        2.6.3 时间-数字转换器第57-60页
    2.7 数据处理模块第60-62页
    2.8 本章小结第62-63页
3 单通道前端读出电路的研究与设计第63-119页
    3.1 应用背景和整体结构第63-64页
        3.1.1 应用背景第63页
        3.1.2 单通道前端读出电路的整体结构第63-64页
    3.2 低噪声前端读出电路的优化设计方法第64-84页
        3.2.1 噪声分析与优化设计方法的提出第64-69页
        3.2.2 低噪声前置放大器第69-76页
        3.2.3 CR-RC滤波成形器第76-80页
        3.2.4 极零相消电路第80-83页
        3.2.5 时间标记电路第83-84页
    3.3 模拟电路的抗辐射加固与版图设计第84-99页
        3.3.1 辐射效应概述第84-91页
        3.3.2 模拟集成电路抗辐射加固技术第91-96页
        3.3.3 低噪声前端读出电路版图设计第96-99页
    3.4 测试结果和讨论第99-117页
        3.4.1 测试板设计第99-102页
        3.4.2 输出波形与功耗第102-103页
        3.4.3 增益与线性度第103-105页
        3.4.4 通道间串扰第105-106页
        3.4.5 时间移步误差第106-107页
        3.4.6 噪声性能第107-108页
        3.4.7 抗辐射性能第108-111页
        3.4.8 能谱性能第111-115页
        3.4.9 性能比较第115-117页
    3.5 本章小结第117-119页
4 多通道前端读出电路的研究与设计第119-157页
    4.1 应用背景和整体结构第119-122页
        4.1.1 应用背景第119-120页
        4.1.2 多通道前端读出电路结构第120-122页
    4.2 电路设计第122-137页
        4.2.1 双输出CSA电路的提出第122-124页
        4.2.2 漏电流补偿电路第124-127页
        4.2.3 准高斯有源滤波成形器第127-130页
        4.2.4 采样保持电路第130-132页
        4.2.5 多通道信号处理电路第132-134页
        4.2.6 时间标记与时序控制电路第134-137页
    4.3 数字电路的抗辐射加固与版图设计第137-143页
        4.3.1 数字集成电路抗辐射加固技术第137-139页
        4.3.2 多通道前端读出电路的串扰抑制与版图设计第139-143页
    4.4 测试结果和讨论第143-156页
        4.4.1 测试板设计第143-144页
        4.4.2 输出波形与功耗第144-146页
        4.4.3 增益与线性度第146-148页
        4.4.4 通道间一致性第148-149页
        4.4.5 通道间串扰第149页
        4.4.6 时序电路测试第149-150页
        4.4.7 噪声性能第150-152页
        4.4.8 能谱性能第152-154页
        4.4.9 性能比较第154-156页
    4.5 本章小结第156-157页
5 上升时间甄别电路的研究与设计第157-169页
    5.1 上升时间甄别电路的必要性第157-158页
    5.2 上升时间甄别电路的提出与设计第158-163页
        5.2.1 上升时间甄别电路的整体结构第158-159页
        5.2.2 上升时间甄别电路的设计第159-163页
    5.3 测试结果与讨论第163-168页
    5.4 本章小结第168-169页
6 总结与展望第169-175页
    6.1 工作总结第169-171页
    6.2 未来工作展望第171-175页
参考文献第175-193页
致谢第193-195页
攻读博士学位期间发表的学术论文和参加科研情况第195-197页

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