成像电子学系统MTF测试技术研究及系统研制
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-10页 |
| 1.2 相关领域研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本论文组织结构 | 第11-12页 |
| 第2章 MTF测试方法及误差分析 | 第12-24页 |
| 2.1 MTF测试方法 | 第12-15页 |
| 2.1.1 星点法 | 第12-13页 |
| 2.1.2 狭缝法 | 第13页 |
| 2.1.3 刃边法 | 第13-14页 |
| 2.1.4 对比度法 | 第14页 |
| 2.1.5 测试方法比对 | 第14-15页 |
| 2.2 测试误差分析 | 第15-22页 |
| 2.2.1 光学系统MTF测试误差 | 第16-17页 |
| 2.2.2 离焦误差 | 第17页 |
| 2.2.3 响应非均匀性误差 | 第17-18页 |
| 2.2.4 对齐误差 | 第18-20页 |
| 2.2.5 倾斜误差 | 第20-21页 |
| 2.2.6 靶标加工误差及环境误差 | 第21页 |
| 2.2.7 算法误差 | 第21-22页 |
| 2.2.8 误差汇总 | 第22页 |
| 2.3 系统构建原则 | 第22-23页 |
| 2.4 小结 | 第23-24页 |
| 第3章 成像电子学MTF测试系统设计 | 第24-34页 |
| 3.1 需求分析 | 第24页 |
| 3.2 总体设计 | 第24-26页 |
| 3.3 照明子系统设计 | 第26-28页 |
| 3.4 光学子系统设计 | 第28-31页 |
| 3.4.1 光学子系统放大倍率 | 第28页 |
| 3.4.2 平行光管设计 | 第28-30页 |
| 3.4.3 成像物镜设计 | 第30-31页 |
| 3.5 机械支撑及调整子系统设计 | 第31-32页 |
| 3.6 电控子系统设计 | 第32-33页 |
| 3.7 小结 | 第33-34页 |
| 第4章 成像电子学系统MTF测试补偿算法研究 | 第34-38页 |
| 4.1 对比度法算法误差分析 | 第34-35页 |
| 4.2 补偿算法设计 | 第35-37页 |
| 4.2.1 影响因素分析及建模 | 第35-36页 |
| 4.2.2 综合影响因素的补偿算法设计 | 第36-37页 |
| 4.3 小结 | 第37-38页 |
| 第5章 试验验证及数据分析 | 第38-47页 |
| 5.1 误差验证 | 第38-41页 |
| 5.1.1 离焦误差验证 | 第38-39页 |
| 5.1.2 非均匀性误差验证 | 第39页 |
| 5.1.3 对齐误差验证 | 第39-40页 |
| 5.1.4 倾斜误差验证 | 第40-41页 |
| 5.2 补偿算法验证 | 第41-43页 |
| 5.3 测试结果正确性验证 | 第43-45页 |
| 5.4 重复性精度验证 | 第45-46页 |
| 5.5 结论 | 第46-47页 |
| 第6章 总结与展望 | 第47-49页 |
| 6.1 总结 | 第47页 |
| 6.2 创新点 | 第47-48页 |
| 6.3 未来工作展望 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
