| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-28页 |
| 1.1 电接触材料概述 | 第10-17页 |
| 1.1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.1.2 铜基电接触材料 | 第11-12页 |
| 1.1.3 铝基电接触材料 | 第12页 |
| 1.1.4 银基电接触材料 | 第12-17页 |
| 1.2 银基电接触材料制备方法 | 第17-19页 |
| 1.2.1 内氧化法(I/O) | 第17-18页 |
| 1.2.2 粉末冶金法(P/M) | 第18-19页 |
| 1.2.3 预氧化合金法(P/O) | 第19页 |
| 1.3 银基电接触材料相关理论 | 第19-22页 |
| 1.3.1 接触电阻 | 第19页 |
| 1.3.2 熔焊 | 第19-20页 |
| 1.3.3 材料损耗 | 第20页 |
| 1.3.4 材料失效及电弧侵蚀机制 | 第20-22页 |
| 1.4 钇铝石榴石概述 | 第22-25页 |
| 1.4.1 增强相性能需求 | 第22页 |
| 1.4.2 钇铝石榴石性能 | 第22-23页 |
| 1.4.3 YAG粉体的制备方法 | 第23-25页 |
| 1.5 课题研究意义及内容 | 第25-28页 |
| 第二章 实验原料及制备表征方法 | 第28-34页 |
| 2.1 实验原料 | 第28-29页 |
| 2.2 实验仪器 | 第29页 |
| 2.3 材料制备过程 | 第29-32页 |
| 2.3.1 化学共沉淀法制备YAG增强相粉体 | 第29-30页 |
| 2.3.2 溶胶凝胶法制备YAG增强相粉体 | 第30-31页 |
| 2.3.3 Ag/YAG电接触材料制备 | 第31-32页 |
| 2.4 分析表征测试 | 第32-34页 |
| 2.4.1 X射线衍射分析(XRD) | 第32页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜分析(SEM) | 第32页 |
| 2.4.3 透射电子显微镜分析(TEM) | 第32页 |
| 2.4.4 红外光谱分析(FTIR) | 第32页 |
| 2.4.5 电寿命测试 | 第32-34页 |
| 第三章 YAG的共沉淀法制备及其电接触材料性能研究 | 第34-50页 |
| 3.1 引言 | 第34-36页 |
| 3.2 实验原理 | 第36页 |
| 3.3 前驱体煅烧温度对YAG粉体微观结构的影响 | 第36-39页 |
| 3.4 NH_4HCO_3摩尔浓度对YAG粉体微观结构的影响 | 第39-41页 |
| 3.5 金属离子浓度对YAG粉体微观结构的影响 | 第41-42页 |
| 3.6 表面改性剂类型对YAG粉体微观结构的影响 | 第42-44页 |
| 3.7 Ag/YAG电接触复合材料的结构与性能研究 | 第44-47页 |
| 3.7.1 Ag/YAG复合材料电阻率特性 | 第44-45页 |
| 3.7.2 Ag/YAG复合材料硬度特性 | 第45-46页 |
| 3.7.3 Ag/YAG复合材料的微结构分析 | 第46-47页 |
| 3.8 本章小结 | 第47-50页 |
| 第四章 YAG的溶胶凝胶法制备及其电接触材料性能研究 | 第50-60页 |
| 4.1 引言 | 第50页 |
| 4.2 实验原理 | 第50-51页 |
| 4.3 水浴温度对YAG粉体微观结构的影响 | 第51-52页 |
| 4.4 六次甲基四胺添加量对YAG粉体微观结构的影响 | 第52-54页 |
| 4.5 烧结温度对YAG粉体微观结构的影响 | 第54-55页 |
| 4.6 表面改性剂类型对YAG粉体微观结构的影响 | 第55-56页 |
| 4.7 Ag/YAG电接触材料的结构与性能研究 | 第56-59页 |
| 4.7.1 Ag/YAG复合材料微结构分析 | 第57-58页 |
| 4.7.2 Ag/YAG复合材料性能 | 第58-59页 |
| 4.8 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 Ag/YAG电接触材料电寿命试验及电弧侵蚀机理研究 | 第60-72页 |
| 5.1 引言 | 第60-61页 |
| 5.2 电流大小对Ag/YAG材料电寿命性能的影响 | 第61-64页 |
| 5.3 服役周期对Ag/YAG材料电寿命性能的影响 | 第64-65页 |
| 5.4 Ag/YAG材料电侵蚀结构分析 | 第65-69页 |
| 5.5 本章小结 | 第69-72页 |
| 第六章 全文总结 | 第72-76页 |
| 参考文献 | 第76-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 个人简历 | 第86-88页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第88页 |
