| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 引言 | 第8-14页 |
| 1.1 课题来源 | 第8页 |
| 1.2 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.4 主要研究方法 | 第11-13页 |
| 1.5 主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 校准装置整体架构和可靠性试验方案选定 | 第14-30页 |
| 2.1 校准装置的架构 | 第14-16页 |
| 2.2 校准装置可靠性框图 | 第16页 |
| 2.3 校准装置可靠性试验方案 | 第16-20页 |
| 2.4 可靠性试验统计方案 | 第20-28页 |
| 2.4.1 基于GJB899的可靠性鉴定和验收试验统计模型 | 第20-21页 |
| 2.4.2 标准型序贯截尾试验统计模型 | 第21-23页 |
| 2.4.3 标准序贯截尾试验统计模型相关参数设定 | 第23-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 校准装置模块设计原理和测试方法 | 第30-51页 |
| 3.1 检测设备校准参数及其校准原理 | 第30-32页 |
| 3.2 发射机单元设计原理 | 第32-37页 |
| 3.2.1 信息处理模块设计原理 | 第33-34页 |
| 3.2.2 中频频合模块设计原理 | 第34-36页 |
| 3.2.3 射频处理模块设计原理 | 第36-37页 |
| 3.3 接收机单元设计原理 | 第37-38页 |
| 3.4 接口单元设计原理 | 第38-39页 |
| 3.5 各模块测试方法 | 第39-50页 |
| 3.5.1 面板模块测试方法 | 第39-41页 |
| 3.5.2 综合业务模块测试方法 | 第41-42页 |
| 3.5.3 射频模块测试方法 | 第42-44页 |
| 3.5.4 中频频合模块测试方法 | 第44-46页 |
| 3.5.5 信息处理模块测试方法 | 第46-50页 |
| 3.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 试验结果和可靠性分析 | 第51-64页 |
| 4.1 电子设备试验故障类型 | 第51-52页 |
| 4.2 可靠性鉴定和验收结果 | 第52-56页 |
| 4.3 基于FMECA的发射机单元可靠性分析 | 第56-61页 |
| 4.3.1 FMECA分析方法 | 第56页 |
| 4.3.2 功能结构框图 | 第56-57页 |
| 4.3.3 FMECA表格设计与分析 | 第57-61页 |
| 4.4 可靠性改进建议 | 第61-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 5.1 主要研究结论 | 第64-65页 |
| 5.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |