| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第14-40页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-23页 |
| 1.1.1 射频电路可靠性的研究内容和分类 | 第16-18页 |
| 1.1.2 射频电路可靠性的文献调研 | 第18-22页 |
| 1.1.3 射频功率放大器可靠性的研究意义和内容 | 第22-23页 |
| 1.2 研究基础 | 第23-28页 |
| 1.2.1 射频集成电路互连可靠性的研究 | 第23-25页 |
| 1.2.2 射频分立电路温度可靠性的研究 | 第25-28页 |
| 1.3 研究现状 | 第28-36页 |
| 1.3.1 射频功率放大器互连可靠性的研究现状 | 第28-31页 |
| 1.3.2 射频功率放大器温度可靠性的研究现状 | 第31-36页 |
| 1.4 论文主要工作和创新 | 第36-38页 |
| 1.5 论文结构及内容安排 | 第38-39页 |
| 1.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第2章 互连电迁移与射频功率放大器的互连可靠性研究 | 第40-70页 |
| 2.1 互连电迁移的概述 | 第41-44页 |
| 2.1.1 互连电迁移的失效机理 | 第41-43页 |
| 2.1.2 互连电迁移的失效因素 | 第43-44页 |
| 2.2 互连电迁移的分析方法 | 第44-51页 |
| 2.2.1 扩散路径法 | 第45-46页 |
| 2.2.2 驱动力法 | 第46-50页 |
| 2.2.3 蒙特卡洛法 | 第50-51页 |
| 2.3 互连电迁移的AFD原理 | 第51-52页 |
| 2.3.1 互连AFD原理 | 第51-52页 |
| 2.3.2 AFD的计算 | 第52页 |
| 2.4 互连电迁移的有限元分析 | 第52-56页 |
| 2.4.1 有限元分析理论及建模方法 | 第53-54页 |
| 2.4.2 互连电迁移的有限元分析过程 | 第54-56页 |
| 2.5 基于ANSYS的射频功率放大器互连可靠性研究 | 第56-63页 |
| 2.5.1 射频功率放大器三维模型的构建 | 第57-60页 |
| 2.5.2 射频功率放大器三维模型的有限元分析 | 第60-63页 |
| 2.6 射频功率放大器的互连可靠性研究 | 第63-67页 |
| 2.6.1 射频功率放大器直流状态的互连可靠性研究 | 第64页 |
| 2.6.2 射频功率放大器交流状态的互连可靠性研究 | 第64-67页 |
| 2.7 本章小结 | 第67-70页 |
| 第3章 基于人工神经网络的射频功率放大器互连可靠性研究 | 第70-108页 |
| 3.1 人工神经网络概述 | 第71-82页 |
| 3.1.1 人工神经网络的组成及结构类型 | 第72-76页 |
| 3.1.2 人工神经网络的建模方法 | 第76-82页 |
| 3.2 射频功率放大器的人工神经网络建模 | 第82-85页 |
| 3.2.1 射频功率放大器3D模型的构建 | 第82-84页 |
| 3.2.2 人工神经网络技术的实现 | 第84-85页 |
| 3.3 基于人工神经网络技术的射频功率放大器互连可靠性研究 | 第85-95页 |
| 3.3.1 基于人工神经网络技术的互连可靠性建模 | 第85-89页 |
| 3.3.2 结果和讨论 | 第89-95页 |
| 3.4 基于人工神经网络自动模型产生算法的射频功率放大器互连可靠性研究 | 第95-105页 |
| 3.4.1 基于人工神经网络自动模型产生算法的基本原理 | 第97-98页 |
| 3.4.2 基于人工神经网络自动模型产生算法的互连可靠性建模 | 第98-99页 |
| 3.4.3 结果和讨论 | 第99-105页 |
| 3.5 本章小结 | 第105-108页 |
| 第4章 射频功率放大器的温度可靠性研究 | 第108-136页 |
| 4.1 GaNHEMT及其可靠性研究 | 第109-119页 |
| 4.1.1 GaNHEMT的材料特性 | 第109-110页 |
| 4.1.2 GaNHEMT的器件结构和工作原理 | 第110-113页 |
| 4.1.3 GaNHMET的可靠性问题 | 第113-115页 |
| 4.1.4 GaNHEMT功率放大器的温度可靠性研究 | 第115-119页 |
| 4.2 超宽带GaN功率放大器的温度可靠性研究 | 第119-125页 |
| 4.2.1 超宽带GaN功率放大器的实现 | 第119-120页 |
| 4.2.2 超宽带GaN功率放大器的温度可靠性测试分析 | 第120-125页 |
| 4.3 并联高效E类GaN功率放大器的温度可靠性研究 | 第125-133页 |
| 4.3.1 并联高效E类GaN功率放大器的实现 | 第125-126页 |
| 4.3.2 并联高效E类GaN功率放大器的温度可靠性测试分析 | 第126-133页 |
| 4.4 本章小结 | 第133-136页 |
| 第5章 射频功率放大器的指标失效研究 | 第136-148页 |
| 5.1 指标失效分析及测试方法研究 | 第136-140页 |
| 5.1.1 基于退化数据的指标失效研究 | 第137-139页 |
| 5.1.2 基于加速退化测试的指标失效研究 | 第139-140页 |
| 5.2 射频功率放大器的指标失效 | 第140-141页 |
| 5.3 射频功率放大器指标失效的测试分析 | 第141-147页 |
| 5.3.1 性能指标及其阈值的选择 | 第141页 |
| 5.3.2 基于退化数据和加速退化测试的指标失效研究 | 第141-147页 |
| 5.4 本章小结 | 第147-148页 |
| 第6章 总结和展望 | 第148-152页 |
| 6.1 本文贡献 | 第148-149页 |
| 6.2 工作展望 | 第149-152页 |
| 参考文献 | 第152-170页 |
| 发表论文与参加科研情况说明 | 第170-172页 |
| 致谢 | 第172-173页 |
