| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第14-30页 |
| 1.1 介电材料的简介及其应用 | 第14-15页 |
| 1.2 相关电介质基础理论 | 第15-21页 |
| 1.2.1 电容与介电常数 | 第15-16页 |
| 1.2.2 电介质的极化 | 第16-20页 |
| 1.2.3 电介质的介电损耗 | 第20-21页 |
| 1.3 巨介电材料CCTO | 第21-25页 |
| 1.3.1 CCTO晶体结构 | 第21-22页 |
| 1.3.2 CCTO的巨介电效应 | 第22-24页 |
| 1.3.3 CCTO的I-V非线性特性 | 第24-25页 |
| 1.4 CCTO的研究现状 | 第25-28页 |
| 1.4.1 CCTO合成方法的研究 | 第25-27页 |
| 1.4.2 CCTO陶瓷掺杂改性的研究 | 第27-28页 |
| 1.5 研究思路和研究内容 | 第28-30页 |
| 第二章 实验表征手段 | 第30-45页 |
| 2.1 正电子谱学原理 | 第30-43页 |
| 2.1.1 正电子的发现 | 第30-31页 |
| 2.1.2 正电子的产生 | 第31-33页 |
| 2.1.3 固体材料中的正电子湮没特性 | 第33-38页 |
| 2.1.4 正电子湮没技术实验方法 | 第38-43页 |
| 2.2 XRD衍射 | 第43-44页 |
| 2.3 扫描电子显微技术 | 第44页 |
| 2.4 拉曼光谱分析 | 第44页 |
| 2.5 电性能测量 | 第44-45页 |
| 2.5.1 介电性能及交流阻抗普测量 | 第44页 |
| 2.5.2 I-V非线性特性测量 | 第44-45页 |
| 第三章 合成温度对CCTO陶瓷微结构和介电/压敏电阻性能的影响 | 第45-62页 |
| 3.1 引言 | 第45-46页 |
| 3.2 样品的制备 | 第46-48页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第48-61页 |
| 3.3.1 TG/DTA、X-ray和SEM结果与讨论 | 第48-51页 |
| 3.3.2 CCTO陶瓷缺陷的正电子湮没测试与讨论 | 第51-53页 |
| 3.3.3 介电性能及I-V非线性特性测试结果与讨论 | 第53-59页 |
| 3.3.4 交流阻抗谱结果与讨论 | 第59-61页 |
| 3.4 小结 | 第61-62页 |
| 第四章 Sr~(2+)、Zn~(2+)掺杂对CCTO陶瓷微结构和介电/压敏电阻性能的影响 | 第62-79页 |
| 4.1 前言 | 第62页 |
| 4.2 样品的制备 | 第62-63页 |
| 4.3 Sr掺杂CCTO结果与讨论 | 第63-71页 |
| 4.3.1 XRD物相、SEM微观形貌及密度结果与讨论 | 第63-66页 |
| 4.3.2 正电子寿命谱结果与讨论 | 第66-69页 |
| 4.3.3 介电性能及I-V非线性特性结果与讨论 | 第69-71页 |
| 4.4 Zn掺杂CCTO结果与讨论 | 第71-77页 |
| 4.4.1 XRD物相及SEM微观形貌结果与讨论 | 第71-74页 |
| 4.4.2 正电子寿命谱结果与讨论 | 第74-75页 |
| 4.4.3 介电性能及I-V非线性特性测试结果与讨论 | 第75-77页 |
| 4.5 小结 | 第77-79页 |
| 第五章 氧化物NiO掺杂对CCTO陶瓷微结构及介电性能的影响 | 第79-86页 |
| 5.1 引言 | 第79页 |
| 5.2 样品的制备 | 第79-80页 |
| 5.3 测试结果与讨论 | 第80-85页 |
| 5.3.1 XRD物相检测、拉曼及SEM形貌结果与讨论 | 第80-82页 |
| 5.3.2 正电子寿命谱实验结果与讨论 | 第82-83页 |
| 5.3.3 介电性能测试结果与讨论 | 第83-84页 |
| 5.3.4 交流阻抗谱结果与讨论 | 第84-85页 |
| 5.4 小结 | 第85-86页 |
| 第六章 CCTO-橡胶复合材料的介电性能研究 | 第86-94页 |
| 6.1 前言 | 第86页 |
| 6.2 样品的制备 | 第86-87页 |
| 6.3 结果与讨论 | 第87-93页 |
| 6.3.1 CCTO-硅橡胶复合材料微结构特征 | 第87-89页 |
| 6.3.2 复合材料的力学性能和介电性能测试结果 | 第89-93页 |
| 6.4 小结 | 第93-94页 |
| 第七章 总结与展望 | 第94-96页 |
| 参考文献 | 第96-107页 |
| 博士期间科研成果 | 第107-108页 |
| 致谢 | 第108页 |
