摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
第一章 论文选题背景 | 第7-11页 |
1.1 引言 | 第7-8页 |
1.2 本课题的来源及目的意义 | 第8-9页 |
1.2.1 课题来源 | 第8-9页 |
1.2.2 本课题的目的 | 第9页 |
1.2.3 本课题的意义 | 第9页 |
1.3 论文主要内容及成果概述 | 第9-11页 |
1.3.1 论文内容 | 第9-10页 |
1.3.2 创新点及成果概述 | 第10-11页 |
第二章 天线罩电厚度及插入相位延迟测量技术概况 | 第11-14页 |
2.1 天线罩电厚度测量概述 | 第11-12页 |
2.2 国内外天线罩电厚度测量发展概况 | 第12-14页 |
第三章 插入相位延迟(IPD)基本概念 | 第14-21页 |
3.1 天线罩的电磁波传输特性 | 第14-15页 |
3.2 插入相位延迟(IPD)的定义 | 第15-16页 |
3.3 保相变频原理 | 第16-17页 |
3.4 IPD 测试基本原理 | 第17-19页 |
3.5 IPD 测试仪的相位测量指标要求 | 第19-21页 |
第四章 IPD 的测量方法 | 第21-29页 |
4.1 相位测量方法 | 第21页 |
4.2 IPD 测量典型方法 | 第21-25页 |
4.2.1 相位-时间间隔转换法原理 | 第21-22页 |
4.2.2 离散傅立叶变换法测相位的理论基础 | 第22-24页 |
4.2.3 离散傅立叶变换法测相位的原理框图 | 第24-25页 |
4.3 典型方法局限性分析及改进方法 | 第25-29页 |
4.3.1 相位-时间间隔转换法的优越性和局限性 | 第25-27页 |
4.3.2 离散傅立叶变换法的优越性和局限性 | 第27-29页 |
第五章 新方法理论依据与分析 | 第29-38页 |
5.1 整机方案 | 第29-30页 |
5.2 噪声对DFT 测相位的影响 | 第30-34页 |
5.2.1 相位噪声的表示 | 第31-32页 |
5.2.2 测试源相位噪声对DFT 测相位的影响 | 第32-33页 |
5.2.3 DFT 算法对测试源相位噪声的要求 | 第33-34页 |
5.2.4 A/D 量化误差对DFT 测相位的影响 | 第34页 |
5.3 测试新方法的提出 | 第34-35页 |
5.4 新方法的实现及可能出现的问题 | 第35-38页 |
第六章 专题试验及效果分析 | 第38-49页 |
6.1 差频信号产生 | 第38-43页 |
6.1.1 差频信号产生原理框图 | 第38页 |
6.1.2 移相控制器 | 第38-42页 |
6.1.2.1 扩展型PIN 管驱动器 | 第39-40页 |
6.1.2.2 软件控制部分 | 第40-42页 |
6.1.3 实验中遇到的问题 | 第42-43页 |
6.2 AD 采样的重复性 | 第43-46页 |
6.2.1 试验目的 | 第43-44页 |
6.2.2 软件工具介绍 | 第44-46页 |
6.2.3 试验结果 | 第46页 |
6.3 IPD 测量值的稳定性 | 第46-49页 |
结束语 | 第49-50页 |
致谢 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-53页 |
研究成果 | 第53-54页 |