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插入相位延迟测试方法研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
第一章 论文选题背景第7-11页
    1.1 引言第7-8页
    1.2 本课题的来源及目的意义第8-9页
        1.2.1 课题来源第8-9页
        1.2.2 本课题的目的第9页
        1.2.3 本课题的意义第9页
    1.3 论文主要内容及成果概述第9-11页
        1.3.1 论文内容第9-10页
        1.3.2 创新点及成果概述第10-11页
第二章 天线罩电厚度及插入相位延迟测量技术概况第11-14页
    2.1 天线罩电厚度测量概述第11-12页
    2.2 国内外天线罩电厚度测量发展概况第12-14页
第三章 插入相位延迟(IPD)基本概念第14-21页
    3.1 天线罩的电磁波传输特性第14-15页
    3.2 插入相位延迟(IPD)的定义第15-16页
    3.3 保相变频原理第16-17页
    3.4 IPD 测试基本原理第17-19页
    3.5 IPD 测试仪的相位测量指标要求第19-21页
第四章 IPD 的测量方法第21-29页
    4.1 相位测量方法第21页
    4.2 IPD 测量典型方法第21-25页
        4.2.1 相位-时间间隔转换法原理第21-22页
        4.2.2 离散傅立叶变换法测相位的理论基础第22-24页
        4.2.3 离散傅立叶变换法测相位的原理框图第24-25页
    4.3 典型方法局限性分析及改进方法第25-29页
        4.3.1 相位-时间间隔转换法的优越性和局限性第25-27页
        4.3.2 离散傅立叶变换法的优越性和局限性第27-29页
第五章 新方法理论依据与分析第29-38页
    5.1 整机方案第29-30页
    5.2 噪声对DFT 测相位的影响第30-34页
        5.2.1 相位噪声的表示第31-32页
        5.2.2 测试源相位噪声对DFT 测相位的影响第32-33页
        5.2.3 DFT 算法对测试源相位噪声的要求第33-34页
        5.2.4 A/D 量化误差对DFT 测相位的影响第34页
    5.3 测试新方法的提出第34-35页
    5.4 新方法的实现及可能出现的问题第35-38页
第六章 专题试验及效果分析第38-49页
    6.1 差频信号产生第38-43页
        6.1.1 差频信号产生原理框图第38页
        6.1.2 移相控制器第38-42页
            6.1.2.1 扩展型PIN 管驱动器第39-40页
            6.1.2.2 软件控制部分第40-42页
        6.1.3 实验中遇到的问题第42-43页
    6.2 AD 采样的重复性第43-46页
        6.2.1 试验目的第43-44页
        6.2.2 软件工具介绍第44-46页
        6.2.3 试验结果第46页
    6.3 IPD 测量值的稳定性第46-49页
结束语第49-50页
致谢第50-51页
参考文献第51-53页
研究成果第53-54页

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