基于盖革模式雪崩光电二极管紫外探测电路的研制
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第12-15页 |
| 1.3 课题内容与论文安排 | 第15-16页 |
| 2 紫外盖革模式探测电路原理 | 第16-32页 |
| 2.1 雪崩光电二极管（APD） | 第16-21页 |
| 2.1.1 APD简介 | 第16-18页 |
| 2.1.2 APD的特性参数 | 第18-21页 |
| 2.2 紫外单光子探测原理 | 第21-31页 |
| 2.2.1 APD的工作模式 | 第21-23页 |
| 2.2.2 SPAD特性参数 | 第23-25页 |
| 2.2.3 SPAD的基本模型 | 第25-27页 |
| 2.2.4 SPAD盖革模式电路介绍 | 第27-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 3 紫外盖革模式探测电路的研制 | 第32-55页 |
| 3.1 紫外盖革模式探测电路设计 | 第32-35页 |
| 3.1.1 被动盖革模式探测电路 | 第32-33页 |
| 3.1.2 主动盖革模式探测电路 | 第33-34页 |
| 3.1.3 探测电路的设计指标 | 第34-35页 |
| 3.2 系统各个模块设计与选型 | 第35-51页 |
| 3.2.1 紫外光源 | 第35-38页 |
| 3.2.2 紫外SPAD | 第38-41页 |
| 3.2.3 电源设计 | 第41-42页 |
| 3.2.4 信号处理电路 | 第42-49页 |
| 3.2.5 计数电路 | 第49-51页 |
| 3.3 紫外盖革模式探测电路的PCB设计 | 第51-54页 |
| 3.3.1 PCB设计规则 | 第51-53页 |
| 3.3.2 探测电路的PCB设计 | 第53-54页 |
| 3.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 4 硬件测试系统平台的搭建与实验结果分析 | 第55-64页 |
| 4.1 硬件测试系统平台的搭建 | 第55-56页 |
| 4.2 硬件电路调试 | 第56-59页 |
| 4.2.1 电源电路调试 | 第56-57页 |
| 4.2.2 信号处理电路调试 | 第57-59页 |
| 4.3 测试结果分析 | 第59-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 5 总结与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第71页 |
