摘要 | 第4-10页 |
Abstract | 第10-13页 |
第一章 绪论 | 第18-46页 |
1.1 热电材料的概述 | 第18-19页 |
1.2 热电材料发展史 | 第19-22页 |
1.3 热电器件的工作原理及输运参数 | 第22-32页 |
1.3.1 热电效应 | 第22-25页 |
1.3.2 热电器件的工作原理 | 第25-28页 |
1.3.3 热电材料的输运参数 | 第28-32页 |
1.4 热电材料的分类及最新进展 | 第32-37页 |
1.4.1 传统热电材料 | 第32-34页 |
1.4.2 新型热电材料 | 第34-37页 |
1.5 笼合物热电材料 | 第37-42页 |
1.5.1 Ⅰ型笼合物的结构组成和研究现状 | 第37-39页 |
1.5.2 压力对Ⅰ型笼合物热电材料热电性能的影响 | 第39页 |
1.5.3 高温高压制备Ⅰ型笼合物热电材料的优点 | 第39-40页 |
1.5.4 其他种类的笼合物 | 第40-42页 |
1.6 本论文选题意义和研究目的 | 第42-44页 |
1.7 本论文的主要研究内容 | 第44-46页 |
第二章 高温高压制备技术 | 第46-58页 |
2.1 高温高压制备技术 | 第46-54页 |
2.1.1 高压设备简介 | 第46-49页 |
2.1.2 压力的标定与控制 | 第49-51页 |
2.1.3 温度的标定与控制 | 第51-53页 |
2.1.4 传压、保温介质简介 | 第53-54页 |
2.2 热电材料的高温高压制备 | 第54-56页 |
2.2.1 实验组装 | 第54-55页 |
2.2.2 热电材料的制备过程 | 第55-56页 |
2.3 高温高压制备笼合物热电材料的优点 | 第56-58页 |
第三章 热电材料性能的测试方法及测试设备 | 第58-64页 |
3.1 热电材料的结构、形貌及能谱分析 | 第58-59页 |
3.1.1 样品的相结构分析 | 第58页 |
3.1.2 样品的形貌及能谱分析 | 第58-59页 |
3.2 样品的电输运性能的表征 | 第59-63页 |
3.2.1 室温电输运性能的表征 | 第59-62页 |
3.2.2 变温电输运性能的表征 | 第62-63页 |
3.3 热输运性能的表征 | 第63-64页 |
第四章 Ba_8Si_(46)的高温高压制备与表征 | 第64-76页 |
4.1 引言 | 第64-65页 |
4.2 以Ba(N_3)_2和Si粉为原料合成Ba_8Si_(46) | 第65-71页 |
4.2.1 原材料的预处理 | 第65-66页 |
4.2.2 样品合成条件的探究 | 第66-68页 |
4.2.3 合成样品微观形貌及成分的表征 | 第68-70页 |
4.2.4 合成样品超导特性的表征 | 第70-71页 |
4.3 以BaSi2粉和Si粉为原料合成Ba_8Si_(46) | 第71-75页 |
4.3.1 高压合成反应前驱物的制备 | 第71-72页 |
4.3.2 样品合成条件的探究 | 第72-74页 |
4.3.3 合成样品微观形貌及成分的表征 | 第74-75页 |
4.4 本章小结 | 第75-76页 |
第五章 Ba_8Cu_xSi_(46-x)的高温高压制备与性能表征 | 第76-82页 |
5.1 引言 | 第76页 |
5.2 Ba_8Cu_xSi_(46-x)样品的制备过程 | 第76-77页 |
5.3 Ba_8Cu_xSi_(46-x)的相结构及微观形貌的表征 | 第77-80页 |
5.3.1 X射线衍射分析 | 第77-78页 |
5.3.2 场发射扫描电镜及能谱分析 | 第78-80页 |
5.4 Ba_8Cu_xSi_(46-x)样品室温电输运性能的表征 | 第80-81页 |
5.5 本章小结 | 第81-82页 |
第六章 Ba_8Cu_5Ge_(8x)Si_(41-8x)的高温高压制备与性能表征 | 第82-99页 |
6.1 引言 | 第82页 |
6.2 样品制备过程 | 第82-83页 |
6.3 合成样品的相结构及微观形貌的表征 | 第83-87页 |
6.3.1 X射线衍射分析 | 第83页 |
6.3.2 场发射扫描电镜及能谱分析 | 第83-85页 |
6.3.3 场发射透射电镜分析 | 第85-87页 |
6.4 Ba_8Cu_5Ge_(8x)Si_(41-8x)的热电性能 | 第87-90页 |
6.5 压力对Ba_8Cu_5Ge_(24)Si_(17)材料热电性能的影响 | 第90-97页 |
6.5.1 样品制备过程 | 第90页 |
6.5.2 不同压力制备Ba_8Cu_5Ge_(24)Si_(17)样品的结构和微观形貌分析 | 第90-94页 |
6.5.3.不同压力合成Ba_8Cu_5Ge_(24)Si_(17)样品的热电性能 | 第94-97页 |
6.6 本章小结 | 第97-99页 |
第七章 压力对Ba_8Ga_(16)Ge_(30)热电性能的影响 | 第99-114页 |
7.1 引言 | 第99页 |
7.2 样品制备过程 | 第99-100页 |
7.3 不同压力制备Ba_8Ga_(16)Ge_(30)结构和微观形貌的分析 | 第100-108页 |
7.3.1 X射线衍射分析 | 第100-101页 |
7.3.2 场发射扫描电镜分析 | 第101-105页 |
7.3.3 高分辨透射电子显微图片分析 | 第105-108页 |
7.4 不同压力合成Ba_8Ga_(16)Ge_(30)样品的热电性能 | 第108-112页 |
7.4.1 不同压力合成Ba_8Ga_(16)Ge_(30)样品的电输运性能 | 第108-109页 |
7.4.2 不同压力合成Ba_8Ga_(16)Ge_(30)样品的热输运性能 | 第109-110页 |
7.4.3 不同压力合成Ba_8Ga_(16)Ge_(30)样品的ZT值 | 第110-112页 |
7.5 本章小结 | 第112-114页 |
第八章 结论与展望 | 第114-120页 |
8.1 结论 | 第114-118页 |
8.2 展望 | 第118-120页 |
参考文献 | 第120-134页 |
作者简介 | 第134-135页 |
攻读博士学位期间公开发表的学术论文 | 第135-137页 |
致谢 | 第137-138页 |