| 第一章 绪论 | 第1-16页 |
| 第一节 视频编码标准与高清晰度电视 | 第6-12页 |
| §1．1．1 图像编解码原理 | 第6-10页 |
| §1．1．2 视频编码标准 | 第10-11页 |
| §1．1．3 高清晰度电视的发展历史 | 第11-12页 |
| 第二节 集成电路设计发展方向 | 第12-14页 |
| §1．2．1 VLSI设计技术 | 第13-14页 |
| §1．2．2 SOC设计技术 | 第14页 |
| 第三节 本文的研究成果及内容安排 | 第14-16页 |
| 第二章 视频解码器结构设计 | 第16-26页 |
| 第一节 系统结构设计 | 第16-18页 |
| §2．1．1 结构比较与分析 | 第16-17页 |
| §2．1．2 软/硬划分 | 第17-18页 |
| 第二节 模块结构设计 | 第18-26页 |
| §2．2．1 VLD模块结构设计 | 第18-20页 |
| §2．2．2 IDCT结构设计 | 第20-26页 |
| 第三章 仿真与验证 | 第26-35页 |
| 第一节 仿真 | 第27-33页 |
| §3．1．1 仿真器的仿真算法 | 第27-29页 |
| §3．1．2 激励信号的产生 | 第29-30页 |
| §3．1．3 结果验证与故障定位 | 第30页 |
| §3．1．4 加快仿真速度的措施 | 第30-33页 |
| 第二节 验证 | 第33-35页 |
| 第四章 综合与可综合设计 | 第35-54页 |
| 第一节 概述 | 第35-37页 |
| §4．1．1 综合综述 | 第35-36页 |
| §4．1．2 综合的目标 | 第36-37页 |
| 第二节 传统的综合过程 | 第37-40页 |
| §4．2．1 简介 | 第37-38页 |
| §4．2．2 分析、缺陷 | 第38-40页 |
| 第三节 新的综合策略 | 第40-42页 |
| 第四节 可综合设计技术 | 第42-53页 |
| §4．4．1 Verilog语言的可综合性 | 第42-45页 |
| §4．4．2 综合结果正确性设计 | 第45-47页 |
| §4．4．3 综合结果最优化性设计 | 第47-53页 |
| 第五节 综合实例 | 第53-54页 |
| 第五章 测试与可测性设计 | 第54-78页 |
| 第一节 测试 | 第54-72页 |
| §5．1．1 测试（Test）的必要性与层次 | 第54页 |
| §5．1．2 物理缺陷模型 | 第54-56页 |
| §5．1．3 故障点的压缩 | 第56-59页 |
| §5．1．4 故障仿真（Fault Simulation） | 第59-63页 |
| §5．1．5 自动测试模式生成（ATPG） | 第63-66页 |
| §5．1．6 内置式自测（BIST） | 第66-69页 |
| §5．1．7 边界扫描（Boundary Scan） | 第69-71页 |
| §5．1．8 功能测试 | 第71-72页 |
| 第二节 可测性（TESTABILITY）分析 | 第72-75页 |
| §5．2．1 SCOAP算法原理 | 第73-74页 |
| §5．2．2 SCOAP算法的局限与动态SCOAP的提出 | 第74-75页 |
| 第三节 可测性设计 | 第75-78页 |
| §5．3．1 结构化可测试设计 | 第75页 |
| §5．3．2 易测试的Verilog代码编写 | 第75-76页 |
| §5．3．3 实例 | 第76-78页 |
| 总结与展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
