面向三维成像的单光子雪崩二极管及像素电路的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·研究背景 | 第9-10页 |
| ·单光子光电探测器件的研究与发展 | 第10-16页 |
| ·光电倍增管 | 第11页 |
| ·雪崩光电二极管 | 第11-16页 |
| ·其它单光子探测器件 | 第16页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 SPAD 的基本理论 | 第17-24页 |
| ·SPAD 工作原理 | 第17-18页 |
| ·SPAD 的性能参数 | 第18-20页 |
| ·光子探测率 | 第18页 |
| ·暗计数率 | 第18页 |
| ·死时间 | 第18-19页 |
| ·后脉冲率 | 第19页 |
| ·时间分辨率 | 第19页 |
| ·串扰率 | 第19-20页 |
| ·SPAD 的工作电路 | 第20-23页 |
| ·被动淬灭-恢复电路 | 第20-21页 |
| ·主动淬灭-恢复电路 | 第21-22页 |
| ·门控模式电路 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 CMOS 工艺单光子雪崩二极管结构与设计 | 第24-42页 |
| ·单光子雪崩二极管结构 | 第24-31页 |
| ·理论依据 | 第24-26页 |
| ·SPAD 器件结构及特点 | 第26-28页 |
| ·SPAD 制作方法 | 第28-29页 |
| ·SPAD 阵列结构 | 第29-31页 |
| ·器件模型与数值仿真 | 第31-37页 |
| ·SPAD 数值模型 | 第31-33页 |
| ·数值仿真结果与分析 | 第33-37页 |
| ·SILVACO TCAD 器件仿真 | 第37-39页 |
| ·测试结果与分析 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 像素电路 | 第42-67页 |
| ·单管被动淬灭-被动恢复像素电路 | 第42-45页 |
| ·电路原理 | 第42-44页 |
| ·电路仿真 | 第44-45页 |
| ·双阈值被动淬灭-主动恢复像素电路 | 第45-49页 |
| ·电路原理 | 第45-47页 |
| ·电路仿真结果与分析 | 第47-49页 |
| ·全差分像素电路 FDP | 第49-66页 |
| ·电路工作原理 | 第49-51页 |
| ·电路分析与设计 | 第51-57页 |
| ·仿真结果与分析 | 第57-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 结束语 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 个人简历 | 第72-73页 |
| 在校期间发表的学术论文及研究成果 | 第73页 |
