晶闸管参数的自动测试方法研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题背景与意义 | 第10-13页 |
| ·半导体分立器件概述 | 第10页 |
| ·半导体分立器件的发展现状 | 第10-11页 |
| ·晶闸管的发展历史 | 第11页 |
| ·半导体分立器件测试技术的特点 | 第11-12页 |
| ·半导体分立器件测试技术的发展现状 | 第12-13页 |
| ·半导体分立器件测试设备的研究意义 | 第13页 |
| ·论文主要内容 | 第13-15页 |
| 第二章 晶闸管参数的测试方法 | 第15-32页 |
| ·晶闸管的结构和等效模型 | 第15-18页 |
| ·晶闸管的伏安特性 | 第18-19页 |
| ·晶闸管的主要参数 | 第19-20页 |
| ·晶闸管主要直流参数测试方法 | 第20-28页 |
| ·晶闸管门极触发电流I GT的测量方法 | 第20-21页 |
| ·晶闸管门极触发电压VG T的测量方法 | 第21-22页 |
| ·晶闸管的通态峰值电压VT M的测量方法 | 第22-23页 |
| ·晶闸管保持电流I H的测量方法 | 第23-24页 |
| ·晶闸管的正向重复峰值电压VD RM的测量方法 | 第24-25页 |
| ·晶闸管的正向重复峰值漏电流I DRM的测量方法 | 第25-26页 |
| ·晶闸管的反向重复峰值电压VR RM的测量方法 | 第26-27页 |
| ·晶闸管的反向重复峰值漏电流I RRM的测量方法 | 第27-28页 |
| ·晶闸管主要交流参数测试方法 | 第28-31页 |
| ·晶闸管的开通时间t_(gt) | 第28-30页 |
| ·断态电压临界上升率 dv /dt | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 测试平台的实现 | 第32-55页 |
| ·测试系统的硬件构成 | 第32-41页 |
| ·测试系统的硬件实现 | 第34-41页 |
| ·电源部分 | 第34-35页 |
| ·测试适配器 | 第35-36页 |
| ·核心板 CPU 板 | 第36-37页 |
| ·高压板 HVB 板 | 第37-38页 |
| ·低压恒压源/恒流源板 LVB 板 | 第38-40页 |
| ·时间参数测试板 TFB 板 | 第40页 |
| ·脉冲大电流板 PIB 板 | 第40-41页 |
| ·测试系统的软件构成 | 第41-54页 |
| ·上位机软件层次结构 | 第41页 |
| ·上位机软件的功能结构 | 第41-46页 |
| ·工程师模式 | 第42-44页 |
| ·生产模式 | 第44-45页 |
| ·管理模式 | 第45-46页 |
| ·下位机软件的层次结构 | 第46-47页 |
| ·下位机软件的功能结构 | 第47页 |
| ·上位机和下位机之间的通信 | 第47-49页 |
| ·上位机的通信系统设计 | 第49页 |
| ·下位机的通信系统设计 | 第49页 |
| ·下位机的数据发送 | 第49页 |
| ·下位机的数据接收 | 第49页 |
| ·自动测试的实现 | 第49-54页 |
| ·自动测试和手动测试的对比 | 第50页 |
| ·图形化编程 | 第50-51页 |
| ·在线自动测试 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 脉冲大电流板的设计 | 第55-66页 |
| ·PIB 板的功能 | 第55页 |
| ·PIB 板设计的指标参数 | 第55-57页 |
| ·PIB 板的总体设计 | 第57-59页 |
| ·关键电路的设计 | 第59-63页 |
| ·误差放大器和比较器电路 | 第59-60页 |
| ·功率放大电路 | 第60-61页 |
| ·脉冲电流采样电路 | 第61-62页 |
| ·峰值检测电路 | 第62-63页 |
| ·PIB 板的测试数据 | 第63-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 晶闸管参数的测试实现 | 第66-74页 |
| ·测试对象以及参数 | 第66-67页 |
| ·建立测试工程 | 第67-69页 |
| ·流程图的编写 | 第69-72页 |
| ·正向重复峰值电压VD RM测试流程 | 第69-71页 |
| ·通态峰值电压VT M测试流程 | 第71-72页 |
| ·搭建硬件平台 | 第72页 |
| ·测试结果 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-77页 |
