面向关键应用的RFID复合事件误检处理方法
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-19页 |
| ·研究背景 | 第10-14页 |
| ·RFID 概述 | 第10-11页 |
| ·RFID 数据流特性 | 第11-13页 |
| ·RFID 技术的应用 | 第13-14页 |
| ·RFID 复合事件研究现状 | 第14-16页 |
| ·RFID 复合事件不可靠数据处理技术 | 第15-16页 |
| ·RFID 复合事件的查询 | 第16页 |
| ·问题的提出 | 第16页 |
| ·本文的工作及组织 | 第16-19页 |
| 第2章 相关工作 | 第19-25页 |
| ·可靠性约束检测清洗 | 第19-22页 |
| ·SOCC 复合事件清洗框架 | 第22-23页 |
| ·TCSC 复合事件误检检测算法 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第3章 重要复合事件误检处理 | 第25-39页 |
| ·重要复合事件误检 | 第25-27页 |
| ·误检的产生 | 第25-27页 |
| ·重要复合事件与互斥约束 | 第27页 |
| ·基于互斥约束的重要复合事件误检处理 | 第27-37页 |
| ·重要复合事件误检处理策略 | 第28-30页 |
| ·重要复合事件互斥约束集的确定 | 第30-33页 |
| ·约束重要复合事件 | 第33-34页 |
| ·查询实例缓存维护 | 第34-36页 |
| ·重要复合事件查询 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-39页 |
| 第4章 低时延的重要复合事件误检处理 | 第39-51页 |
| ·重要复合事件的误检处理时延 | 第39页 |
| ·确定最优互斥约束事件 | 第39-44页 |
| ·互斥约束的优先级 | 第39-40页 |
| ·互斥约束优先级的确定 | 第40-44页 |
| ·约束重要查询 | 第44-45页 |
| ·重要复合事件误检处理实例 | 第45-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第5章 实验与分析 | 第51-56页 |
| ·实验环境与模拟场景 | 第51-52页 |
| ·实验环境 | 第51页 |
| ·模拟场景 | 第51-52页 |
| ·实验结果与分析 | 第52-55页 |
| ·ECCP 与 TCSC、SOCC 的性能对比 | 第52-53页 |
| ·AECCP 与 TCSC、SOCC 的性能对比 | 第53-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第6章 总结与展望 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及参加科研情况 | 第60-61页 |
