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铟基氮、氧化物和铜基氧化物薄膜的制备及性质研究

摘要第1-8页
Abstract第8-16页
第一章 绪论第16-34页
   ·引言第16-19页
   ·InN 的结构及性质第19-23页
     ·InN 的结构第19-20页
     ·InN 的性质及应用第20-23页
   ·In_2O_3的结构及性质第23-25页
     ·In_2O_3的结构第23-24页
     ·In_2O_3的性质及应用第24-25页
   ·Cu_2O 的结构及性质第25-28页
     ·Cu_2O 的结构第25-26页
     ·Cu_2O 的性质及应用第26-28页
   ·CuAlO_2的结构及性质第28-33页
     ·CuAlO_2的结构第28-30页
     ·CuAlO_2的性质及应用第30-33页
   ·本论文主要研究内容第33-34页
第二章 样品的制备及表征方法第34-54页
   ·磁控溅射的基本原理第34-42页
     ·溅射镀膜的特点及主要特征参数第34-35页
     ·辉光放电现象第35-39页
     ·射频磁控溅射介绍第39-40页
     ·薄膜生长过程概述第40-41页
     ·磁控溅射设备第41-42页
   ·旋涂法第42-44页
   ·薄膜的结构及性能表征方法第44-54页
     ·X 射线衍射(XRD)第44-46页
     ·光电子能谱(XPS)第46-47页
     ·拉曼光谱第47-48页
     ·扫描电子显微镜(SEM)第48-50页
     ·透射电子显微镜(TEM)第50-51页
     ·光学特性表征第51-52页
     ·电学特性表征第52页
     ·磁性测量第52-54页
第三章 采用 AlInN/AlN 双缓冲层沉积(002)取向的 InN 薄膜第54-68页
   ·引言第54-56页
   ·实验方法第56-57页
     ·InN 薄膜的生长第56-57页
     ·InN 薄膜的表征第57页
   ·结果与讨论第57-66页
     ·InN 薄膜的表面形貌及横截面结构第57-59页
     ·InN 薄膜的晶体结构第59-65页
     ·InN 薄膜的拉曼分析第65-66页
   ·本章小结第66-68页
第四章 氧气对 Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的影响第68-80页
   ·引言第68-70页
   ·Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的生长及表征第70-71页
     ·Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的制备第70页
     ·Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的表征第70-71页
   ·结果与讨论第71-78页
     ·Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的表面形貌及横截面结构第71-72页
     ·薄膜的结构第72-76页
     ·Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的透过率第76-77页
     ·Ti 掺杂 In_2O_3薄膜的电学特性第77-78页
   ·本章小结第78-80页
第五章 Cu_2O/In_2O_3异质结的带阶研究第80-92页
   ·引言第80-81页
   ·Cu_2O/In_2O_3异质结的制备及带阶测量第81-82页
     ·Cu_2O/In_2O_3异质结的制备第81-82页
     ·Cu_2O/In_2O_3异质结异质结的测试第82页
   ·结果与讨论第82-91页
     ·Cu_2O/In_2O_3异质结的取向第82-84页
     ·XPS 测量 Cu_2O/In_2O_3异质结的带阶第84页
     ·XPS 分析第84-87页
     ·体材料的价带(VB)第87-88页
     ·Cu_2O/In_2O_3异质结的能级排列第88-91页
   ·本章小结第91-92页
第六章 Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的制备及磁性分析第92-103页
   ·引言第92-93页
   ·Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的制备及表征第93-95页
     ·Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的制备第93-94页
     ·Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的表征第94-95页
   ·结果与讨论第95-101页
     ·Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的形貌第95-96页
     ·Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的结构第96-99页
     ·Co 掺杂 CuAlO_2薄膜的磁性第99-101页
   ·本章小结第101-103页
第七章 总结与展望第103-106页
   ·结论第103-104页
   ·展望第104-106页
参考文献第106-118页
作者简介及在学期间所取得的科研成果第118-120页
致谢第120页

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