摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-13页 |
第一章 绪论 | 第13-22页 |
·选题背景及研究意义 | 第13-14页 |
·振荡器相位噪声的定义及其表示方法 | 第14-17页 |
·振荡器相位噪声模型的研究现状 | 第17-18页 |
·低相位噪声振荡器研究的国内外动态 | 第18-20页 |
·主要研究内容及结构 | 第20-22页 |
第二章 振荡器的相位噪声理论分析 | 第22-40页 |
·振荡器的相位噪声模型分析 | 第22-27页 |
·振荡器的 Barkhausen 准则 | 第22-23页 |
·Leeson 的经验模型 | 第23-25页 |
·Ali Hajimiri & Thomas H. Lee 相位噪声模型 | 第25-26页 |
·Demir,Mehrotra & Roychowdhury 的相位噪声模型 | 第26-27页 |
·振荡器有载品质因数 Q_L与相位噪声的关系 | 第27-32页 |
·品质因数 Q 值的定义 | 第27-29页 |
·有载品质因数 Q_L对相位噪声的影响 | 第29-32页 |
·有载品质因数 Q_L表示式的推导 | 第32-39页 |
·双口网络理论基础 | 第32-33页 |
·单端无源网络的 Q_L表示式 | 第33-36页 |
·双端无源网络的 Q_L表示式 | 第36-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第三章 石英晶体振荡器的相位噪声研究 | 第40-56页 |
·石英晶体谐振器的物理特性 | 第40-43页 |
·AT 切谐振器 | 第41-42页 |
·SC 切谐振器 | 第42-43页 |
·石英晶体谐振器的电抗特性 | 第43-44页 |
·有载品质因数 Q_L与皮尔斯晶体振荡器电路参数的定量关系 | 第44-47页 |
·120MHZ AT 切晶体振荡器的相位噪声研究 | 第47-50页 |
·120MHz AT 切晶体振荡器有载品质因数 Q_L的推导与分析 | 第47-49页 |
·120 MHz AT 切晶体振荡器的设计及相位噪声测试 | 第49-50页 |
·120MHZ SC 切晶体振荡器的相位噪声研究 | 第50-55页 |
·120MHz SC 切晶体振荡器有载品质因数 Q_L的推导和分析 | 第50-53页 |
·120MHz SC 切晶体振荡器的设计及相位噪声测试 | 第53-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
第四章 声表面波压控振荡器的相位噪声研究 | 第56-76页 |
·声表面波器件的工作原理 | 第56-57页 |
·声表面波谐振器 | 第57-59页 |
·声表面波振荡器的相位噪声分析 | 第59-65页 |
·315MHz 巴特勒共基声表面波振荡器的 Q_L表示式的推导 | 第60-61页 |
·315MHz 巴特勒共基声表面波振荡器有载品质因数 Q_L的分析 | 第61-63页 |
·315MHz 巴特勒共基声表面波振荡器的设计及相位噪声测试 | 第63-65页 |
·声表面波压控振荡器的相位噪声分析 | 第65-74页 |
·压控振荡器特性和变容二极管的选择 | 第65-68页 |
·声表面波压控振荡器相位噪声研究 | 第68-74页 |
·本章小结 | 第74-76页 |
第五章 宽调谐范围的钽酸锂低相位噪声振荡器的研究 | 第76-90页 |
·钽酸锂晶体振荡器的电路分析 | 第77-80页 |
·钽酸锂压控振荡器的相位噪声测试及结果分析 | 第80-89页 |
·本章小结 | 第89-90页 |
第六章 振荡器相位噪声的几个相关问题研究 | 第90-112页 |
·低相位噪声温度补偿晶体振荡器的研究 | 第90-95页 |
·新型温度补偿晶体振荡器的原理 | 第91-92页 |
·晶体振荡器的频率温度特性和相位噪声测试及分析 | 第92-95页 |
·振荡器的双层隔振系统的研究 | 第95-103页 |
·振动环境对晶体振荡器的影响机理 | 第96-97页 |
·双层被动隔振系统的理论分析和设计 | 第97-99页 |
·双层被动隔振系统的实验研究 | 第99-103页 |
·串电容后的晶体谐振器等效电路参数的精确推导 | 第103-106页 |
·低相位噪声声体波振荡器中的能陷 | 第106-110页 |
·能陷理论对相位噪声的影响分析 | 第106-107页 |
·能陷对相位噪声影响的实验验证 | 第107-110页 |
·本章小结 | 第110-112页 |
第七章 总结与展望 | 第112-114页 |
·本文总结 | 第112-113页 |
·进一步的工作展望 | 第113-114页 |
致谢 | 第114-115页 |
参考文献 | 第115-124页 |
攻博期间取得的研究成果 | 第124-126页 |