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反馈式振荡器相位噪声的理论分析及优化技术研究

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-13页
第一章 绪论第13-22页
   ·选题背景及研究意义第13-14页
   ·振荡器相位噪声的定义及其表示方法第14-17页
   ·振荡器相位噪声模型的研究现状第17-18页
   ·低相位噪声振荡器研究的国内外动态第18-20页
   ·主要研究内容及结构第20-22页
第二章 振荡器的相位噪声理论分析第22-40页
   ·振荡器的相位噪声模型分析第22-27页
     ·振荡器的 Barkhausen 准则第22-23页
     ·Leeson 的经验模型第23-25页
     ·Ali Hajimiri & Thomas H. Lee 相位噪声模型第25-26页
     ·Demir,Mehrotra & Roychowdhury 的相位噪声模型第26-27页
   ·振荡器有载品质因数 Q_L与相位噪声的关系第27-32页
     ·品质因数 Q 值的定义第27-29页
     ·有载品质因数 Q_L对相位噪声的影响第29-32页
   ·有载品质因数 Q_L表示式的推导第32-39页
     ·双口网络理论基础第32-33页
     ·单端无源网络的 Q_L表示式第33-36页
     ·双端无源网络的 Q_L表示式第36-39页
   ·本章小结第39-40页
第三章 石英晶体振荡器的相位噪声研究第40-56页
   ·石英晶体谐振器的物理特性第40-43页
     ·AT 切谐振器第41-42页
     ·SC 切谐振器第42-43页
   ·石英晶体谐振器的电抗特性第43-44页
   ·有载品质因数 Q_L与皮尔斯晶体振荡器电路参数的定量关系第44-47页
   ·120MHZ AT 切晶体振荡器的相位噪声研究第47-50页
     ·120MHz AT 切晶体振荡器有载品质因数 Q_L的推导与分析第47-49页
     ·120 MHz AT 切晶体振荡器的设计及相位噪声测试第49-50页
   ·120MHZ SC 切晶体振荡器的相位噪声研究第50-55页
     ·120MHz SC 切晶体振荡器有载品质因数 Q_L的推导和分析第50-53页
     ·120MHz SC 切晶体振荡器的设计及相位噪声测试第53-55页
   ·本章小结第55-56页
第四章 声表面波压控振荡器的相位噪声研究第56-76页
   ·声表面波器件的工作原理第56-57页
   ·声表面波谐振器第57-59页
   ·声表面波振荡器的相位噪声分析第59-65页
     ·315MHz 巴特勒共基声表面波振荡器的 Q_L表示式的推导第60-61页
     ·315MHz 巴特勒共基声表面波振荡器有载品质因数 Q_L的分析第61-63页
     ·315MHz 巴特勒共基声表面波振荡器的设计及相位噪声测试第63-65页
   ·声表面波压控振荡器的相位噪声分析第65-74页
     ·压控振荡器特性和变容二极管的选择第65-68页
     ·声表面波压控振荡器相位噪声研究第68-74页
   ·本章小结第74-76页
第五章 宽调谐范围的钽酸锂低相位噪声振荡器的研究第76-90页
   ·钽酸锂晶体振荡器的电路分析第77-80页
   ·钽酸锂压控振荡器的相位噪声测试及结果分析第80-89页
   ·本章小结第89-90页
第六章 振荡器相位噪声的几个相关问题研究第90-112页
   ·低相位噪声温度补偿晶体振荡器的研究第90-95页
     ·新型温度补偿晶体振荡器的原理第91-92页
     ·晶体振荡器的频率温度特性和相位噪声测试及分析第92-95页
   ·振荡器的双层隔振系统的研究第95-103页
     ·振动环境对晶体振荡器的影响机理第96-97页
     ·双层被动隔振系统的理论分析和设计第97-99页
     ·双层被动隔振系统的实验研究第99-103页
   ·串电容后的晶体谐振器等效电路参数的精确推导第103-106页
   ·低相位噪声声体波振荡器中的能陷第106-110页
     ·能陷理论对相位噪声的影响分析第106-107页
     ·能陷对相位噪声影响的实验验证第107-110页
   ·本章小结第110-112页
第七章 总结与展望第112-114页
   ·本文总结第112-113页
   ·进一步的工作展望第113-114页
致谢第114-115页
参考文献第115-124页
攻博期间取得的研究成果第124-126页

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