模拟故障字典技术测点选择问题研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-25页 |
| ·研究的背景和意义 | 第14-15页 |
| ·测点选择方法的研究现状 | 第15-21页 |
| ·解析法 | 第15-18页 |
| ·基于灵敏度矩阵的方法 | 第15-16页 |
| ·基于电路传输函数的方法 | 第16-17页 |
| ·符号分析和拓扑图分析法 | 第17-18页 |
| ·仿真法 | 第18-21页 |
| ·基于响应信号分析的方法 | 第18-19页 |
| ·基于故障字典技术的测试选择方法 | 第19-21页 |
| ·现有测点选择方法的不足 | 第21页 |
| ·本文的主要内容及结构安排 | 第21-25页 |
| ·本文的主要内容 | 第21-22页 |
| ·本文的结构安排 | 第22-25页 |
| 第二章 基于整数编码技术的测点选择方法及其分析 | 第25-45页 |
| ·模拟故障字典技术简介 | 第25-26页 |
| ·整数编码方法简介 | 第26-29页 |
| ·常用的测点选择算法 | 第29-32页 |
| ·包含法 | 第29-31页 |
| ·排除法 | 第31-32页 |
| ·算法分析 | 第32-38页 |
| ·精度分析 | 第32-37页 |
| ·包含法 | 第34-37页 |
| ·排除法 | 第37页 |
| ·时间复杂度分析 | 第37-38页 |
| ·现有方法的综合 | 第38-39页 |
| ·统计分析实验 | 第39-44页 |
| ·不同测点评估标准之间的比较 | 第39-41页 |
| ·不同测点选择策略的比较 | 第41-42页 |
| ·综合法与包含法的比较 | 第42-44页 |
| ·结论 | 第44-45页 |
| 第三章 深度优先的启发式图搜索方法 | 第45-73页 |
| ·基于深度优先启发式图搜索的测点选择方法 | 第45-64页 |
| ·深度优先图搜索原理 | 第45-47页 |
| ·图搜索与测点选择问题的结合 | 第47-49页 |
| ·启发函数的构造 | 第49-51页 |
| ·算法描述 | 第51-52页 |
| ·时间复杂度分析 | 第52-54页 |
| ·电路仿真实验 | 第54-63页 |
| ·统计分析实验与结论 | 第63-64页 |
| ·Rollout 算法与启发式图搜索方法的结合 | 第64-73页 |
| ·算法描述 | 第64-65页 |
| ·时间复杂度分析 | 第65-66页 |
| ·电路仿真实验 | 第66-71页 |
| ·统计分析实验与结论 | 第71-73页 |
| 第四章 全局最优测点选择方法 | 第73-83页 |
| ·最佳图搜索方法简介 | 第73页 |
| ·最佳图搜索与测点选择问题的结合 | 第73-75页 |
| ·启发函数的构造 | 第75-77页 |
| ·整数编码技术与M 进制编码 | 第75-76页 |
| ·启发评估函数 | 第76-77页 |
| ·算法描述 | 第77-80页 |
| ·统计分析实验 | 第80-81页 |
| ·本章小结 | 第81-83页 |
| 第五章 基于故障对编码技术的测点选择方法 | 第83-97页 |
| ·故障对编码技术 | 第83-85页 |
| ·基于故障对编码技术的测点选择算法 | 第85-87页 |
| ·时间复杂度分析 | 第87-88页 |
| ·电路仿真实验 | 第88-93页 |
| ·统计分析实验 | 第93-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 第六章 测点选择中容差问题的处理方法 | 第97-125页 |
| ·斜率故障模型原理 | 第97-100页 |
| ·容差问题的处理方法 | 第100-109页 |
| ·确定公共点的方法 | 第101-102页 |
| ·确定特征区域的方法 | 第102-109页 |
| ·解析法 | 第102-103页 |
| ·精确的仿真方法 | 第103-106页 |
| ·统计仿真方法 | 第106页 |
| ·预定义比例阈值的方法 | 第106-109页 |
| ·测点选择与容差处理 | 第109-110页 |
| ·仿真实验与实例 | 第110-124页 |
| ·本章小结 | 第124-125页 |
| 第七章 测点选择算法的推广与应用 | 第125-135页 |
| ·测点选择算法的推广 | 第125-130页 |
| ·序贯测试问题简介 | 第125-126页 |
| ·测点选择方法推广到序贯测试问题 | 第126-130页 |
| ·算法描述 | 第126-127页 |
| ·试验验证 | 第127-130页 |
| ·测点选择算法的应用 | 第130-134页 |
| ·本章小结 | 第134-135页 |
| 第八章 总结与展望 | 第135-138页 |
| ·全文总结 | 第135-136页 |
| ·进一步的工作 | 第136-138页 |
| 致谢 | 第138-139页 |
| 参考文献 | 第139-147页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第147-149页 |
