| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-38页 |
| ·光散射现象 | 第10-19页 |
| ·光散射的分类和检测方法 | 第19-23页 |
| ·光散射在检测(成像)领域的应用 | 第23-27页 |
| ·本文研究的主要内容和主要创新点 | 第27-29页 |
| 参考文献 | 第29-38页 |
| 第二章 直波导中缺陷引起的散射 | 第38-55页 |
| ·直波导中的点缺陷──成因及其危害 | 第38-42页 |
| ·模型的建立 | 第42-46页 |
| ·麦克斯韦方程的描述 | 第42-44页 |
| ·二维问题(等效折射率方法) | 第44-46页 |
| ·矩量法 | 第46-51页 |
| ·矩量法的一般性理论 | 第46-48页 |
| ·二维标量矩量法 | 第48-50页 |
| ·二维紧约束平板波导中的格林函数 | 第50-51页 |
| ·本章总结 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 第三章 直波导中一个点缺陷的解析检测方法 | 第55-67页 |
| ·含一个点缺陷直波导逆问题的一般理论 | 第56-59页 |
| ·含一个点缺陷直波导逆问题的解析检测算法 | 第59-61页 |
| ·验证解析检测方法 | 第61-64页 |
| ·本章总结 | 第64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 第四章 直波导中一个细条缺陷的解析检测方法 | 第67-84页 |
| ·含线缺陷直波导问题的解析描述 | 第67-72页 |
| ·直波导中一个线缺陷问题的解析重构方法 | 第72-76页 |
| ·利用在波导两端得到的场分布信息对细条缺陷定位 | 第72-73页 |
| ·利用在波导两端得到的强度分布信息来对细条缺陷定位 | 第73-76页 |
| ·验证解析描述方法 | 第76-77页 |
| ·验证解析检测方法 | 第77-81页 |
| ·测量数据是散射场的情形 | 第77-79页 |
| ·测量数据是散射场强度的情形 | 第79-81页 |
| ·本章总结 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 第五章 OCT的基本原理 | 第84-94页 |
| ·低相干光干涉信号 | 第84-88页 |
| ·OCT的基本原理 | 第88-91页 |
| ·本章总结 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-94页 |
| 第六章 OCT系统的模拟 | 第94-121页 |
| ·OCT的数值模拟方法 | 第94-108页 |
| ·Mie 散射理论 | 第95-100页 |
| ·Monte Carlo 方法和模拟的步骤 | 第100-107页 |
| ·OCT 信号的分拣方法 | 第107-108页 |
| ·OCT模拟结果 | 第108-112页 |
| ·OCT模型分析横向分辨力 | 第112-117页 |
| ·模拟方法 | 第112-114页 |
| ·实例和讨论 | 第114-117页 |
| ·本章总结 | 第117-118页 |
| 参考文献 | 第118-121页 |
| 第七章 OCT实验系统 | 第121-145页 |
| ·我们的OCT实验装置 | 第121-130页 |
| ·硬件部分 | 第122-125页 |
| ·软件部分 | 第125-130页 |
| ·OCT实验 | 第130-137页 |
| ·系统设置和控制 | 第130-132页 |
| ·OCT实验和图象 | 第132-137页 |
| ·OCT中的色散研究 | 第137-142页 |
| ·色散现象 | 第137-140页 |
| ·色散补偿算法 | 第140-142页 |
| ·本章总结 | 第142页 |
| 参考文献 | 第142-145页 |
| 第八章 总结与展望 | 第145-148页 |
| ·论文总结 | 第145-146页 |
| ·今后研究工作展望 | 第146-148页 |
| 博士期间参加的科研项目及撰写的学术论文 | 第148-150页 |
| 致谢 | 第150页 |