| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第8-9页 |
| ·论文的工作和结构 | 第9-10页 |
| 第二章 SoC 功能验证方法介绍 | 第10-14页 |
| ·静态验证 | 第10-11页 |
| ·基于仿真的验证——动态验证技术 | 第11-12页 |
| ·FPGA 验证 | 第12页 |
| ·软硬件协同验证 | 第12-13页 |
| ·SoC 功能验证方法的小结 | 第13-14页 |
| 第三章 EMI 设计方案 | 第14-23页 |
| ·EMI 在Garfield 中的地位和作用 | 第14-15页 |
| ·EMI 设计结构分析 | 第15-22页 |
| ·EMI 设计相关背景知识介绍 | 第15-16页 |
| ·EMI 设计介绍 | 第16-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第四章 EMI 验证环境 | 第23-31页 |
| ·Specman Elite 和E 语言简介 | 第23-27页 |
| ·基于Specman Elite 的平台架构 | 第23-24页 |
| ·eVC 和验证环境的可重用性 | 第24-27页 |
| ·可重用的EMI 验证环境 | 第27-30页 |
| ·EMI 模块的验证方案 | 第27页 |
| ·使用AHB eVC 搭建验证环境 | 第27-28页 |
| ·配置AHB eVC 配置文件 | 第28-29页 |
| ·配置AHB eVC 序列库 | 第29-30页 |
| ·配置eVC 的功能覆盖率 | 第30页 |
| ·配置监视器 | 第30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第五章 基于覆盖率驱动的EMI 验证结果分析 | 第31-55页 |
| ·EMI 的覆盖率目标 | 第31-33页 |
| ·基于覆盖率驱动的激励受限生成 | 第33-35页 |
| ·覆盖率评估机制 | 第33-34页 |
| ·基于覆盖率驱动的激励生成 | 第34-35页 |
| ·针对覆盖率空洞开发EMI 关键场景 | 第35-47页 |
| ·SRAM 的仿真验证 | 第35-36页 |
| ·SDRAM 的仿真验证 | 第36-43页 |
| ·Nand Flash 的仿真验证 | 第43-47页 |
| ·EMI 的验证结果分析 | 第47-54页 |
| ·EMI 功能覆盖率报告 | 第47-49页 |
| ·EMI 模块的代码覆盖率报告 | 第49页 |
| ·两种覆盖率机制的比较 | 第49-50页 |
| ·使用覆盖率驱动验证流程的结果 | 第50-54页 |
| ·EMI 验证工作总结 | 第54-55页 |
| 第六章 EMI 测试结果分析 | 第55-63页 |
| ·Garfield 测试板及 JTAG 接口电路的简介 | 第55-57页 |
| ·SRAM 与 SDRAM 的调试和测试 | 第57-59页 |
| ·Nand Flash 驱动及其电路的调试和测试 | 第59-62页 |
| ·Nand Flash 驱动和文件系统接口 | 第60-61页 |
| ·从 Nand Flash 启动的流程 | 第61-62页 |
| ·EMI 测试工作的总结 | 第62-63页 |
| 总结与展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 作者简介 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |